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GDX1小盒软包透明纸热封缺陷的视觉检测系统 被引量:6
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作者 蔡培良 何邦贵 +3 位作者 杨剑锋 李明 易凡竣 朱开林 《包装工程》 CAS 北大核心 2017年第5期92-95,共4页
目的解决在GDX1包装机生产过程中,小盒透明纸热封粘贴不牢、不平整、泡皱、反包等缺陷不能被有效检测及剔除的问题。方法设计一种新型GDX1小盒软包透明纸热封缺陷视觉检测系统,通过对其关键技术的研究,进行动态图像采集、MICRO II控制... 目的解决在GDX1包装机生产过程中,小盒透明纸热封粘贴不牢、不平整、泡皱、反包等缺陷不能被有效检测及剔除的问题。方法设计一种新型GDX1小盒软包透明纸热封缺陷视觉检测系统,通过对其关键技术的研究,进行动态图像采集、MICRO II控制程序设计、安装支架设计、输出控制参数调整等,实现对有缺陷的小盒侧面透明纸热封烟包的高效检测及准确剔除。结果该视觉检测系统实施后,有缺陷烟包的剔除率≥99.9%,误剔率≤0.03%。结论该视觉检测系统能提高产品质量,降低物耗,为精益生产、精益加工起到了一定的保障作用,该系统和技术可推广应用于行业内所有GDX1/2包装设备上。 展开更多
关键词 热封缺陷 视觉检测 卷烟包装机
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基于图像处理技术的烟包侧面热封缺陷分析
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作者 曲永冬 何邦贵 +2 位作者 曾学淑 刘戈曳 王志龙 《新技术新工艺》 2013年第4期108-110,共3页
本文以MATLAB图像处理技术为基础,对GDX2包装机组生产的小盒硬包侧面BOPP热封缺陷进行图像识别,提取图像中的缺陷特征信息,并对提取的缺陷特征信息进行分析,确定小盒硬包侧面热封缺陷区域的面积和缺陷集中的区域,试验结果与小盒硬包侧... 本文以MATLAB图像处理技术为基础,对GDX2包装机组生产的小盒硬包侧面BOPP热封缺陷进行图像识别,提取图像中的缺陷特征信息,并对提取的缺陷特征信息进行分析,确定小盒硬包侧面热封缺陷区域的面积和缺陷集中的区域,试验结果与小盒硬包侧面热封缺陷的实际分布情况基本吻合。利用图像处理技术对热封缺陷特征进行提取分析,采集具体缺陷特征的数据信息,为分析缺陷产生的原因及进一步改进GDX2包装机的热封系统提供了具体的理论依据。 展开更多
关键词 图像处理 MATLAB软件 热封缺陷 特征提取
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基于BEEI方法的软包装热封缺陷超声检测研究
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作者 袁红梅 何存富 吴斌 《应用基础与工程科学学报》 EI CSCD 2010年第4期686-694,共9页
将超声无损检测技术应用于软包装热封封口性能检测中,采用背散射回波包络积分(BEEI)成像方法,该方法将每一扫描点的时域回波信号进行Hilbert变换求其包络信号,将包络信号在整个回波时间段的积分值按照扫描的先后次序生成一个二维矩阵,... 将超声无损检测技术应用于软包装热封封口性能检测中,采用背散射回波包络积分(BEEI)成像方法,该方法将每一扫描点的时域回波信号进行Hilbert变换求其包络信号,将包络信号在整个回波时间段的积分值按照扫描的先后次序生成一个二维矩阵,对矩阵插值后进行成像.试验中,采用中心频率为22.66MHz的点聚焦探头,对软包装封口处直径为50—150μm的六种通道型缺陷和夹杂缺陷进行扫描,扫描区域为包含缺陷的2.98mm×1.50mm的矩形区;分析了成像矩阵中BEEI值的变异系数(CV)以及垂直于热封方向和平行于热封方向上BEEI值的变化趋势.结果表明,超声无损检测技术可以较好地应用于软包装热封质量的检测;试验所得的BEEI值的变异系数低于8%,说明整个成像矩阵中BEEI值的离散程度较小;缺陷区的BEEI均值高于背景区的BEEI均值约30%—40%. 展开更多
关键词 热封缺陷 BEEI成像 超声检测 软包装
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相关算法软包装热封缺陷空气耦合超声检测 被引量:1
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作者 刘忆森 周松斌 +3 位作者 韩威 黄可嘉 李昌 刘伟鑫 《中国测试》 CAS 北大核心 2016年第12期111-115,120,共6页
为实现软包装热封缺陷的在线无损检测,将空气耦合超声检测技术应用于软包装热封缺陷检测。采用中心频率为1MHz、焦点直径约1mm的点聚焦空气耦合超声探头,并分别采用包络积分算法和相关算法对带有0.5~1.5mm泄漏通道型缺陷的热封封... 为实现软包装热封缺陷的在线无损检测,将空气耦合超声检测技术应用于软包装热封缺陷检测。采用中心频率为1MHz、焦点直径约1mm的点聚焦空气耦合超声探头,并分别采用包络积分算法和相关算法对带有0.5~1.5mm泄漏通道型缺陷的热封封口进行面扫描成像。实验结果表明该方法可实现软包装热封泄漏缺陷的非接触成像。将带通滤波后的超声信号包络与标准信号包络相关性系数作为成像特征量,可有效消除空气耦合超声的透射能量波动噪声。相对于包络积分算法,相关算法可显著提升图像信噪比以及小尺寸缺陷检出能力。 展开更多
关键词 空气耦合超声 非接触检测 相关算法 软包装热封缺陷
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