TN247 2005021017 基于单片机的激光远场光斑直接测量系统=Monolithic computer-based energy distribution direct measurement system of laser spot in field[刊,中]／朱震(中国人民解放 军63880部队．河南,洛阳(471003)),姚梅…//...TN247 2005021017 基于单片机的激光远场光斑直接测量系统=Monolithic computer-based energy distribution direct measurement system of laser spot in field[刊,中]／朱震(中国人民解放 军63880部队．河南,洛阳(471003)),姚梅…//光电技术 应用．-2004,19(5)．-28—32 通过比较激光光斑远场直接测量与间接测量的优缺 点,提出使用单片机控制的探测器阵列进行远场光斑直接 测量。描述了系统结构,分析了关键技术,给出了主要程 序的框图。该系统能够测量激光光斑大小、形状、总能量、展开更多
TN249//G306 2003053531我国激光技术领域成果专利保护亟待加强=On thepatent protection for laser technical achievements in ourcountry[刊,中]/杨哲(国家知识产权局专利局物理发明审查部.北京(100088))//中国激光.-2003,30(2).-189...TN249//G306 2003053531我国激光技术领域成果专利保护亟待加强=On thepatent protection for laser technical achievements in ourcountry[刊,中]/杨哲(国家知识产权局专利局物理发明审查部.北京(100088))//中国激光.-2003,30(2).-189-192简述了激光技术发展的现状,详细介绍了国内外激光技术领域专利申请的状况,提出了我国激光技术成果专利保护方面的对策。表6参4(李瑞琴)展开更多
文摘TN247 2005021017 基于单片机的激光远场光斑直接测量系统=Monolithic computer-based energy distribution direct measurement system of laser spot in field[刊,中]／朱震(中国人民解放 军63880部队．河南,洛阳(471003)),姚梅…//光电技术 应用．-2004,19(5)．-28—32 通过比较激光光斑远场直接测量与间接测量的优缺 点,提出使用单片机控制的探测器阵列进行远场光斑直接 测量。描述了系统结构,分析了关键技术,给出了主要程 序的框图。该系统能够测量激光光斑大小、形状、总能量、
文摘TN249//G306 2003053531我国激光技术领域成果专利保护亟待加强=On thepatent protection for laser technical achievements in ourcountry[刊,中]/杨哲(国家知识产权局专利局物理发明审查部.北京(100088))//中国激光.-2003,30(2).-189-192简述了激光技术发展的现状,详细介绍了国内外激光技术领域专利申请的状况,提出了我国激光技术成果专利保护方面的对策。表6参4(李瑞琴)
