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液晶光楔阵列调制光束偏转研究
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作者 曹凡 徐律涵 +1 位作者 刘志强 叶茂 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第14期243-249,共7页
利用液晶材料可电控调制折射率的特性,设计一种新的电极结构,并利用液晶材料的线性响应区,通过在不同区域施加不同的电压组合,在工作区域形成不同的倾斜直线电压分布。通过采集干涉图并利用Zernike多项式进行波前重构,结果表明制备的液... 利用液晶材料可电控调制折射率的特性,设计一种新的电极结构,并利用液晶材料的线性响应区,通过在不同区域施加不同的电压组合,在工作区域形成不同的倾斜直线电压分布。通过采集干涉图并利用Zernike多项式进行波前重构,结果表明制备的液晶光楔阵列器件可以实现单独调制光束的偏转。 展开更多
关键词 学器件 电控调制 液晶 束偏转
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白光下液晶器件光程差分布的测试与单色光验证
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作者 漆明春 黄子强 汪相如 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第8期254-260,共7页
提出了把液晶波片作为电控补偿器,使用偏光显微镜的白光照射条件下测试液晶器件光程差二维分布的方法,建立了液晶器件在正交偏光下测试二维光程差分布的验证系统。使用该系统测试了液晶电控波片的光程差分布,将测试数据与传统的1/4波片... 提出了把液晶波片作为电控补偿器,使用偏光显微镜的白光照射条件下测试液晶器件光程差二维分布的方法,建立了液晶器件在正交偏光下测试二维光程差分布的验证系统。使用该系统测试了液晶电控波片的光程差分布,将测试数据与传统的1/4波片法的测试结果进行了标定,误差在3%以内。在此基础上,使用上述系统完成了液晶光楔、紫外光寻址的透过式液晶空间光调制器二维光程差分布的测试,得到了二者的电控二维光程差分布规律。该方法的进一步优化,还可以用于液晶光学相控阵列的测试。研究意义在于,可以用偏光显微镜自带的白光照明系统来测试电控液晶器件在多个波长,包括近红外波段下光程差二维分布的显微结构,用于液晶光学相控阵列的驱动电压非线性校正、相位凹陷与回程区检测,还可用于液晶空间光调制器的光学寻址伽马校正等方面。 展开更多
关键词 学器件 液晶波片 液晶 补偿法 程差
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