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浮栅ROM器件辐射效应机理分析被引量：11: 1; 作者贺朝会耿斌 +3 位作者杨海亮陈晓华李国政王燕萍《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第9期2235-2238,共4页; 分析了浮栅ROM器件的辐射效应机理 ,合理地解释了实验中观察到的现象 .指出辐射产生的电子空穴对在器件中形成的氧化物陷阱电荷和界面陷阱电荷是导致存储单元及其外围电路出现错误的原因 .浮栅ROM器件的中子、质子和6 0; 关键词浮栅rom器件辐射效应氧化物陷阱电荷界面陷阱电荷中子质子总剂量效应只读存储器 ^60Coγ; 原文传递

浮栅ROM器件γ辐射效应实验研究被引量：10: 2; 作者贺朝会耿斌 +2 位作者陈晓华王燕萍彭宏论《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第4期344-347,共4页; 给出了浮栅 ROM器件的γ辐照效应实验结果。器件出现错误有个累积剂量阈值 ,当累积剂量小于某一值时 ,无数据错误。当累积剂量达到一定值时 ,开始出现数据错误。随着累积剂量的增加 ,错误数增加 ,动态监测和静态加电的器件都出现数据错... 展开更多; 关键词浮栅rom器件 γ辐射效应实验研究总剂量效应钴60 γ源只读存储器; 下载PDF 职称材料

浮栅ROM器件的辐射效应实验研究被引量：8: 3; 作者贺朝会耿斌 +3 位作者杨海亮陈晓华王燕萍李国政《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期180-187,共8页; 浮栅ROM器件的质子和中子辐射效应实验结果表明 ,其 31.9MeV质子和 14MeV中子的辐射效应不是单粒子效应 ,而是一种总剂量效应 .浮栅ROM器件的6 0 Coγ辐照实验验证了这一点 .器件出现错误有个注量或剂量阈值 .动态监测和静态加电的器件... 展开更多; 关键词浮栅rom器件辐射效应实验研究单粒子效应总剂量效应只读存储器; 原文传递

浮栅ROM器件γ射线、X射线和中子辐射效应实验研究被引量：3: 4; 作者何宝平张凤祁姚志斌《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第4期489-492,共4页; 本工作涉及浮栅ROM器件AT29C256的γ射线、X射线和反应堆快中子辐照实验测量。测量结果表明,浮栅ROM器件γ射线、X射线和快中子辐照效应是典型的总剂量效应。错误发生存在剂量阈值,开始出错时的错误数及错误地址不确定,错误数随辐照剂... 展开更多; 关键词浮栅rom器件 Γ射线 X射线中子总剂量效应; 下载PDF 职称材料

浮栅ROM器件的质子辐射效应实验研究被引量：2: 5; 作者贺朝会耿斌 +1 位作者陈晓华杨海亮《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第2期184-192,共9页; 给出了浮栅ROM器件的质子辐射效应实验结果.认为浮栅ROM28C256和29C256的质子辐射效应不是单粒子效应,而是质子及其次级带电粒子产生的累积剂量造成的总剂量效应.器件出现错误有个质子注量阈值.对于29C256,高温加电退火容易消除质子产... 展开更多; 关键词单粒子效应浮栅rom器件质子辐射效应实验研究航天器电子系统; 下载PDF 职称材料

浮栅ROM器件x射线剂量增强效应实验研究: 6; 作者郭红霞陈雨生 +3 位作者张义门韩福斌贺朝会周辉《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期2315-2319,共5页; 给出了浮栅ROM器件在钴源和北京同步辐射装置 (BSRF) 3W1白光束线辐照的实验结果 ;比较了两种辐照的实验结果及其损伤异同性 .通过实验在线测得位错误数随总剂量的变化 ,给出相同累积剂量时x射线辐照和γ射线辐照的总剂量效应损伤等效关... 展开更多; 关键词浮栅rom器件剂量增强效应实验研究 EEProm X射线同步辐射只读存储器; 原文传递

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