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SOC可测试性设计与测试技术
被引量：
42
1
作者
胡瑜
韩银和
李晓维
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2005年第1期153-162,共10页
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性...
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩／解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向.
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关键词
芯片系统
可
测试
性设计
测试
资源
划分
测试
资源
优化
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职称材料
题名
SOC可测试性设计与测试技术
被引量：
42
1
作者
胡瑜
韩银和
李晓维
机构
中国科学院计算技术研究所信息网络室
中国科学院研究生院北京
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2005年第1期153-162,共10页
基金
国家自然科学基金SOC重大研究计划重点项目(90207002)
文摘
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩／解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向.
关键词
芯片系统
可
测试
性设计
测试
资源
划分
测试
资源
优化
Keywords
system-on-a-chip
design-for-testability
test resource partitioning
test resource optimization
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SOC可测试性设计与测试技术
胡瑜
韩银和
李晓维
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2005
42
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