期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于JTAG控制器Net-1149.1的测试系统模型 被引量:1
1
作者 陶宁 江晓山 +2 位作者 赵京伟 盛华义 章红宇 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期407-409,403,共4页
讨论了建立基于JTAG控制器Net-1149.1的测试系统模型的基本方法和系统结构。介绍了测试环境软硬件平台的建立及在测试主机上的软件编程及调试工作。
关键词 北京谱仪 Net-1149.1控制器 主漂移室 联合测试工作组 测试存取通道
下载PDF
边界扫描电路故障类型分析 被引量:1
2
作者 耿爽 《微处理机》 2014年第3期5-7,共3页
边界扫描电路是在ASIC和FPGA中广泛应用的一种可测性设计。介绍了边界扫描电路的发展及应用,阐述了边界扫描电路的电路结构,并着重研究了边界扫描电路的故障类型及测试方法。
关键词 边界扫描 测试存取通道 故障
下载PDF
数字电路设计中边界扫描测试策略
3
作者 刘维周 《云南大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2005年第S2期283-287,共5页
可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略... 可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注. 展开更多
关键词 边界扫描测试 测试存取通道 边界扫描寄存器BSR
原文传递
数字系统设计中边界扫描测试诊断策略
4
作者 刘维周 《南京晓庄学院学报》 2004年第4期13-16,共4页
本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注。
关键词 边界扫描测试 测试存取通道 边界扫描寄存器BSR
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部