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基于红外热图的机载电路板故障模式诊断研究 被引量:9
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作者 郝建新 贾春宇 《红外技术》 CSCD 北大核心 2019年第3期273-278,共6页
作为一种新型的非接触式检测方法,基于红外热成像技术的机载电路板故障模式诊断方法受到越来越多的关注。本文针对传统基于红外热图的电路板故障检测算法中存在的缺陷,提出一种结合红外图像分割、热阻网络、支持向量机SVM(Support Vecto... 作为一种新型的非接触式检测方法,基于红外热成像技术的机载电路板故障模式诊断方法受到越来越多的关注。本文针对传统基于红外热图的电路板故障检测算法中存在的缺陷,提出一种结合红外图像分割、热阻网络、支持向量机SVM(Support Vector Machine)与D-S证据理论的故障检测算法。首先,通过红外图像分割完成目标芯片区域温度提取,应用热阻网络模型对目标区域温度信息进行优化;其次,提取温度信息特征向量分别输入对应的初级SVM诊断模块,输出各故障模式的加权基本概率分配值BPA(Basic Probability Assignment);最后,应用D-S证据理论对各证据体加权BPA进行数据融合,输出融合后的故障诊断结果。实验结果表明,本文算法加强了有效证据体对诊断结果的正面影响,削弱了无效证据体的负面影响,大幅度提高了机载电路板故障模式诊断准确度。 展开更多
关键词 红外热图 机载电路板 支持向量机 证据理论 故障诊断
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基于可测试性技术的测试矩阵优化研究 被引量:2
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作者 王力 贾春宇 《现代电子技术》 北大核心 2020年第21期137-142,共6页
可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高。为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化... 可测试性技术在机载电路板中的应用使故障诊断问题得到快速发展,但是测试时间长,测试成本高。为了缩短测试时间,降低测试成本,基于MCSA算法、等权值抗误判算法、极小权值-极大相异性算法,融合改进的测试矩阵优化算法,使测试矩阵更加优化,测试向量数量减少。经实验验证,运用优化后的测试矩阵进行测试可以有效缩短测试时间,提高测试效率,降低测试成本。 展开更多
关键词 可测试性技术 故障诊断 机载电路板 测试时间 测试成本 测试矩阵
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