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题名面向航空环境的多时钟单粒子翻转故障注入方法
被引量：5
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作者
薛茜男
李振
姜承翔
王鹏
田毅
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机构
中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室
中国民航大学安全科学与工程学院
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出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2014年第6期1504-1508,共5页
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基金
国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合资助项目(U1333120)
中央高校基本科研业务费项目(3122013P004)
中国民航大学科研启动基金项目(2012QD26X)资助课题
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文摘
随着新型电子器件越来越多地被机载航电设备所采用,单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)故障已经成为影响航空飞行安全的重大隐患。首先,针对由于单粒子翻转故障的随机性,该文对不同时刻发生的单粒子翻转故障引入了多时钟控制,构建了SEU故障注入测试系统。然后模拟真实情况下单粒子效应引发的多时间点故障,研究了单粒子效应对基于FPGA构成的时序电路的影响,并在线统计了被测模块的失效数据和失效率。实验结果表明,对于基于FPGA构建容错电路,采用多时钟沿三模冗余(Triple Modular Redundancy,TMR)加固技术可比传统TMR技术提高约1.86倍的抗SEU性能;该多时钟SEU故障注入测试系统可以快速、准确、低成本地实现单粒子翻转故障测试,从而验证了SEU加固技术的有效性。
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关键词
机载电子器件
单粒子翻转(SEU)
故障注入
抗辐射加固技术
FPGA
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Keywords
FPGA
Airborne electronic device
Fault injection
Radiation hardening technique
FPGA
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分类号
TN07
[电子电信—物理电子学]
V524.3
[航空宇航科学与技术—人机与环境工程]
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