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静态时序分析中不同工作模式的分析及应用 被引量：3
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作者 曹建 《信息技术》 2011年第1期127-129,132,共4页
为了使STA(静态时序分析)结果更接近实际芯片工作环境的情况,可以通过设置不同的分析模式来进行时序仿真。芯片设计工作环境包括工艺、工作电压、工作温度的参数(PVT)。根据不同的PVT组合,可以得到WORST、TYPICAL、BEST的工作条件。并在... 为了使STA(静态时序分析)结果更接近实际芯片工作环境的情况,可以通过设置不同的分析模式来进行时序仿真。芯片设计工作环境包括工艺、工作电压、工作温度的参数(PVT)。根据不同的PVT组合,可以得到WORST、TYPICAL、BEST的工作条件。并在STA中通过3种模式:单一模式(single mode)、最好-最坏模式(bc-wc mode)、全芯片变化模式(ocv mode)来仿真芯片实际的工作情况。将对不同的工作模式进行分析,并阐述其在深亚微米芯片设计过程中的应用。 展开更多
关键词 延时 工作环境 最好-最坏模式 全芯片变化模式 建立时间 保持时间
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