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题名基于ATE的传输延迟测试方法优化
被引量：2
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作者
李灿
韩先虎
程法勇
郭晓宇
王建超
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机构
中国电子科技集团公司第五十八研究所
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出处
《现代电子技术》
2023年第20期39-43,共5页
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文摘
目前利用数模混合集成电路自动测试机(ATE)测试系统测试纳秒级传输延迟时,由于信号发生单元驱动能力限制,多采用程控外接仪器进行测试,大批量测试时无法满足生产需求。文中介绍数模混合集成ATE测试系统的工作架构和传输延迟时间的测试原理,分析了基于数模混合ATE测试系统的时间测量单元(TMU)的工作原理和采用程控外接仪器的时间测试方法,通过对两种测试方法的对比,总结了优化TMU测试方法取代程控外接仪器的必要性。以MOSFET为研究对象,研究导致传输延迟测量误差的原因,通过增强ATE的信号驱动能力优化了TMU测试方法。试验结果表明,优化后传输延迟测试方法与MOSFET器件规范中的典型值基本一致,并且提高了测试效率,满足了大批量测试的需求。
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关键词
自动测试设备(ATE)
传输延迟
集成电路
程控
时间测量单元(tmu)
MOSFET
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Keywords
ATE
transmission delay
integrated circuit
programm control
tmu
MOSFET
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分类号
TN47-34
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407
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