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一种新型测试生成电路的设计
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作者 李田泽 胡健 李增祥 《传感器世界》 2003年第11期24-27,共4页
使用d兼容为基础的宽压缩,设计了一种用于混合式机内自动测试的新型测试生成电路。这种测试电路具有每个时钟循环都对电路进行测试的特点,特别适合于自动计数的设计和自测结构。
关键词 测试生成电路 错误覆盖 实验时钟 时标测试 扫描测试
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