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时序电路测试中敏化路径选择研究
1
作者 王仲 宫云战 康葳 《装甲兵工程学院学报》 1998年第3期29-33,共5页
时序电路测试产生过程中,在进行敏化路径选择时会遇到失败问题.本文针对迭代组合阵列模型测试中产生的这些问题进行了有益的探讨,并提出了改进的时序电路测试产生算法,使之更加完善.
关键词 时序电路测试 迭代组合阵列 敏化路径
全文增补中
数字集成电路、双极集成电路
2
《电子科技文摘》 1999年第8期33-33,共1页
关键词 数字集成电路 双极集成电路 复杂可编程逻辑器件 时序电路测试 现场可编程 逻辑结构 方法探析 数字电路 宏单元 编译实现
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