目的研究InLab MC XL系统不同隙料厚度对Cerec Blocs全瓷冠边缘和内部适合性的影响。方法制备右上颌第一磨牙全冠预备体模型并翻制硅橡胶阴模,分别灌制全瓷石膏、超硬石膏预备体模型各30个。30个全瓷石膏预备体用于光学印模采集,获得30...目的研究InLab MC XL系统不同隙料厚度对Cerec Blocs全瓷冠边缘和内部适合性的影响。方法制备右上颌第一磨牙全冠预备体模型并翻制硅橡胶阴模,分别灌制全瓷石膏、超硬石膏预备体模型各30个。30个全瓷石膏预备体用于光学印模采集,获得30个数字化代型并完全随机分为6组分别设置不同隙料厚度值:0(A组)、10(B组)、20(C组)、30(D组)、40μm(E组)和50μm(F组),每组5个。30个超硬石膏预备体用于全瓷冠黏结,经包埋、剖开后,体式显微镜扫描试件剖面。结果 C、D组边缘适合性均介于30～120μm,内部适合性均介于30～300μm。C组与D组冠边缘适合性比较有统计学差异(P<0.05)。C、D组冠内部适合性不均匀,面适合性相对较大。结论当隙料厚度为20、30μm时,全瓷冠的边缘和内部适合性均在临床可接受范围内;30μm的冠边缘适合性优于20μm,但20、30μm的冠面适合性较差。展开更多
文摘目的研究InLab MC XL系统不同隙料厚度对Cerec Blocs全瓷冠边缘和内部适合性的影响。方法制备右上颌第一磨牙全冠预备体模型并翻制硅橡胶阴模,分别灌制全瓷石膏、超硬石膏预备体模型各30个。30个全瓷石膏预备体用于光学印模采集,获得30个数字化代型并完全随机分为6组分别设置不同隙料厚度值:0(A组)、10(B组)、20(C组)、30(D组)、40μm(E组)和50μm(F组),每组5个。30个超硬石膏预备体用于全瓷冠黏结,经包埋、剖开后,体式显微镜扫描试件剖面。结果 C、D组边缘适合性均介于30～120μm,内部适合性均介于30～300μm。C组与D组冠边缘适合性比较有统计学差异(P<0.05)。C、D组冠内部适合性不均匀,面适合性相对较大。结论当隙料厚度为20、30μm时,全瓷冠的边缘和内部适合性均在临床可接受范围内;30μm的冠边缘适合性优于20μm,但20、30μm的冠面适合性较差。
