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题名93C56B耐久性试验方法研究
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作者
苏琳
郎猛
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机构
中国电子科技集团公司第四十七研究所
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出处
《微处理机》
2022年第3期34-37,共4页
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文摘
为进一步挖掘EEPROM器件的应用潜力,以微芯片93C56B为例,设计一套针对存储数据耐久性的试验方法。从具体工艺需求入手,探讨万次擦写对存储器的耐久性与产品可靠性的意义。基于前期工作经验和成果,面向生产第一线,从硬件、软件两方面设计并实现一套具体的擦写器系统,并在使用中减少人工干预,提高工作效率,使操作简单、方便、直观。擦写器系统硬件体积小、软件界面友好、易操作,便于查错和批量作业,已在实际生产测试中得到良好应用,对于节约时间与人工成本效果明显。
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关键词
EEPROM器件
93C56B型微芯片
数据擦写
数据校验
存储耐久性
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Keywords
EEPROM
Microchip 93C56B
Data erasure
Data verification
Storage durability
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名问鼎FinalData2.0
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出处
《大众软件》
2003年第3期27-27,共1页
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关键词
问鼎FinalData2.0
数据恢复专业软件
数据擦写软件
工具软件
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分类号
TP311.56
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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