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数字集成电路芯片微机检测法
被引量：
1
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作者
蒋万君
《现代电子技术》
2002年第4期18-20,共3页
用可编程并行接口 82 5 5 A设计一个 PC机的接口电路 ,该电路用来检测数字集成电路芯片的好坏 ,具有成本低、效率高。
关键词
数字
集成电路
芯片
微机检测法
组合逻辑
电路
时序逻辑
电路
下载PDF
职称材料
题名
数字集成电路芯片微机检测法
被引量：
1
1
作者
蒋万君
机构
重庆三峡学院计算机科学系
出处
《现代电子技术》
2002年第4期18-20,共3页
基金
重庆三峡学院院级科研课题 项目编号 2 0 0 1 4 0 0 0 70 1 4
文摘
用可编程并行接口 82 5 5 A设计一个 PC机的接口电路 ,该电路用来检测数字集成电路芯片的好坏 ,具有成本低、效率高。
关键词
数字
集成电路
芯片
微机检测法
组合逻辑
电路
时序逻辑
电路
Keywords
chip, check, combinational logic circuit, sequential logic circuit, Programmable Parallel Interface 8255A
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
数字集成电路芯片微机检测法
蒋万君
《现代电子技术》
2002
1
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