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面向芯片设计的测试新理念 被引量：2
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作者 李金铁 刘旸 《中国集成电路》 2007年第3期68-72,共5页
SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新... SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案,分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求。 展开更多
关键词 面向芯片设计的测试 EDA—Linkage 快速响应市场 提升新产品品质
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