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VLSI电路可测性设计技术及其应用综述 被引量：26
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作者 成立 王振宇 +1 位作者 高平 祝俊 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第5期20-24,34,共6页
综述了超大规模集成电路的几种主要的可测试性设计技术,如扫描路径法、内建自测试法和边界扫描法等,并分析比较了这几种设计技术各自的特点及其应用方法和策略。
关键词 VLSI 可测性设计 内建自测试 自动测试设备 超大规模集成电路 扫描路径法
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