0007238用 SAM 对外引线沾污引起器件失效的研究[刊]/陈明华//微电子技术.—1999,27(6).—39-44(E)本文主要介绍了以扫描俄歇微探针为手段,对由于器件外引线受污染引起的失效进行分析。运用电化学理论,探讨了由此产生的失效机理,并就电...0007238用 SAM 对外引线沾污引起器件失效的研究[刊]/陈明华//微电子技术.—1999,27(6).—39-44(E)本文主要介绍了以扫描俄歇微探针为手段,对由于器件外引线受污染引起的失效进行分析。运用电化学理论,探讨了由此产生的失效机理,并就电化学反应条件对器件失效成因的影响进行了讨论。展开更多
文摘0007238用 SAM 对外引线沾污引起器件失效的研究[刊]/陈明华//微电子技术.—1999,27(6).—39-44(E)本文主要介绍了以扫描俄歇微探针为手段,对由于器件外引线受污染引起的失效进行分析。运用电化学理论,探讨了由此产生的失效机理,并就电化学反应条件对器件失效成因的影响进行了讨论。
