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成像X射线光电子能谱定量分析研究
被引量：
8
1
作者
刘芬
邱丽美
赵良仲
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第9期1082-1084,共3页
探索了直接用实验测得的XPS图像强度来做元素或化学态相对定量分析的可能性。以AgCl和Na2 S2 O3样品为例 ,实验结果表明 :XPS图像强度与成像时间有良好的线性关系 。
关键词
成像
x射线
光电子
能谱
定量分析
化学态
元素分析
下载PDF
职称材料
题名
成像X射线光电子能谱定量分析研究
被引量：
8
1
作者
刘芬
邱丽美
赵良仲
机构
中国科学院化学研究所
出处
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第9期1082-1084,共3页
文摘
探索了直接用实验测得的XPS图像强度来做元素或化学态相对定量分析的可能性。以AgCl和Na2 S2 O3样品为例 ,实验结果表明 :XPS图像强度与成像时间有良好的线性关系 。
关键词
成像
x射线
光电子
能谱
定量分析
化学态
元素分析
Keywords
imaging X-ray photoelectron spectrometry
quantitative analysis
分类号
O657.62 [理学—分析化学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
成像X射线光电子能谱定量分析研究
刘芬
邱丽美
赵良仲
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
8
下载PDF
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