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聚合物阵列波导光栅复用器/解复用器的参数设计与损耗分析 被引量:4
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作者 郭文滨 马春生 +5 位作者 陈维友 张大明 董纬 陈开鑫 刘彩霞 刘式墉 《吉林大学学报(理学版)》 CAS CSCD 北大核心 2002年第1期80-83,共4页
对中心波长为 1 5 5 μm、波长间隔为 1 6nm的聚合物阵列波导光栅波分复用 解复用器进行参数设计 ,并对器件的损耗进行分析 .
关键词 聚合物阵列波导光栅 复用器/解复用器 参数设计 衍射损耗 弯曲波导损耗 衬底泄露损耗 损耗分析
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970 nm超辐射发光二极管弯曲脊形波导数值分析 被引量:1
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作者 刘帅男 王芝浩 +3 位作者 王警辉 张悦 薄报学 高欣 《光电子.激光》 CAS CSCD 北大核心 2023年第6期628-635,共8页
本文基于光束传播法(beam propagation method,BPM)和时域有限差分法(finite difference time domain method,FDTD)建立了分析模型,模拟并分析了弯曲脊形波导超辐射发光二极管(superluminescent light emitting diode,SLD)不同结构参数... 本文基于光束传播法(beam propagation method,BPM)和时域有限差分法(finite difference time domain method,FDTD)建立了分析模型,模拟并分析了弯曲脊形波导超辐射发光二极管(superluminescent light emitting diode,SLD)不同结构参数(刻蚀深度、曲率半径、脊形宽度)对波导损耗的影响和倾斜脊形波导不同结构参数(刻蚀深度、脊形宽度、倾斜角度、发射波长)对模式反射率的影响。计算表明,弯曲脊形波导的刻蚀深度和曲率半径是影响波导损耗的重要因素。刻蚀深度较浅使波导对光场的限制作用较弱,过小的曲率半径会使模式传输泄露严重,损耗大大增加。脊形宽度越大,波导损耗越小,其对波导损耗影响较小。脊形波导的端面倾斜角度是抑制模式反射率的重要因素,脊形宽度增加,模式反射率逐渐减小,并在特定的几个角度形成的奇点达到最小值。刻蚀深度对于模式反射率的影响作用较小,但随着刻蚀深度的增加,奇点发生的角度产生了向小角度偏移。在特定的倾斜角度范围内,随着波长减小,奇点的数目会逐渐增加。研究结果可对设计具有优越性能的SLD器件提供参考。 展开更多
关键词 超辐射发光二极管(SLD) 弯曲脊形波导损耗 倾斜脊形波导模式反射率 光束传播法(BPM) 时域有限差分法(FDTD)
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