噪声是影响Duffing振子相态跃迁的重要因素,其结果导致Duffing检测可靠性降低,从而影响其在实际工程中的应用。为此,提出了一种含强非线性阻尼项的广义Van der Pol振子相态跃迁模型,从理论上证明了其用于弱信号检测的可行性。与经典Duff...噪声是影响Duffing振子相态跃迁的重要因素,其结果导致Duffing检测可靠性降低,从而影响其在实际工程中的应用。为此,提出了一种含强非线性阻尼项的广义Van der Pol振子相态跃迁模型,从理论上证明了其用于弱信号检测的可行性。与经典Duffing振子相比,新模型具有更强的状态稳定性和噪声免疫性。仿真实验表明,基于新模型的检测方法可以有效降低噪声对相态跃迁的影响,改善弱信号检测的可靠性。展开更多
研究了在色噪声激励下含分数阶时滞项的广义Van der Pol系统的随机分岔问题.首先将其中的分数阶导数项转换为一种回复力和阻尼力的线性组合,利用均方误差最小原则,通过计算与原系统的误差,可将原分数阶系统转换为整数阶系统.其次引入广...研究了在色噪声激励下含分数阶时滞项的广义Van der Pol系统的随机分岔问题.首先将其中的分数阶导数项转换为一种回复力和阻尼力的线性组合,利用均方误差最小原则,通过计算与原系统的误差,可将原分数阶系统转换为整数阶系统.其次引入广义Van der Pol变换,根据随机平均法求得系统的伊藤随机微分方程和Fokker-Planck-Kolmogorov(FPK)方程.最后通过系统的稳态概率密度函数图验证了分数阶导数阶数p、非线性阻尼系数μ等参数的改变可以诱发系统的随机P-分岔.展开更多
文摘噪声是影响Duffing振子相态跃迁的重要因素,其结果导致Duffing检测可靠性降低,从而影响其在实际工程中的应用。为此,提出了一种含强非线性阻尼项的广义Van der Pol振子相态跃迁模型,从理论上证明了其用于弱信号检测的可行性。与经典Duffing振子相比,新模型具有更强的状态稳定性和噪声免疫性。仿真实验表明,基于新模型的检测方法可以有效降低噪声对相态跃迁的影响,改善弱信号检测的可靠性。
文摘研究了在色噪声激励下含分数阶时滞项的广义Van der Pol系统的随机分岔问题.首先将其中的分数阶导数项转换为一种回复力和阻尼力的线性组合,利用均方误差最小原则,通过计算与原系统的误差,可将原分数阶系统转换为整数阶系统.其次引入广义Van der Pol变换,根据随机平均法求得系统的伊藤随机微分方程和Fokker-Planck-Kolmogorov(FPK)方程.最后通过系统的稳态概率密度函数图验证了分数阶导数阶数p、非线性阻尼系数μ等参数的改变可以诱发系统的随机P-分岔.
