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强CHIP性质和广义限制域逼近的特征
被引量：
2
1
作者
方东辉
李冲
杨文善
《数学学报（中文版）》
SCIE
CSCD
北大核心
2004年第6期1115-1122,共8页
本文研究了广义限制域的最佳逼近问题,在允许有有限个节点的情况下,引入次强内点条件的概念,并将优化理论中的强CHIP性质等概念应用到本文所研究的问题中,刻画了次强内点、强CHIP性质和最佳逼近的特征之间的关系.作为推论,我们得到了广...
本文研究了广义限制域的最佳逼近问题,在允许有有限个节点的情况下,引入次强内点条件的概念,并将优化理论中的强CHIP性质等概念应用到本文所研究的问题中,刻画了次强内点、强CHIP性质和最佳逼近的特征之间的关系.作为推论,我们得到了广义限制最佳逼近的Kolmogorov型和“零属于凸包”型等特征定理.
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关键词
强CHIP
最佳逼近
次强内点条件
广义
限制
域
原文传递
题名
强CHIP性质和广义限制域逼近的特征
被引量：
2
1
作者
方东辉
李冲
杨文善
机构
吉首大学数学与计算机科学系
浙江大学数学系
浙江师范大学数理信息学院
出处
《数学学报（中文版）》
SCIE
CSCD
北大核心
2004年第6期1115-1122,共8页
基金
国家自然科学基金资助项目(10271025)
浙江省自然科学基金资助项目(102058)
文摘
本文研究了广义限制域的最佳逼近问题,在允许有有限个节点的情况下,引入次强内点条件的概念,并将优化理论中的强CHIP性质等概念应用到本文所研究的问题中,刻画了次强内点、强CHIP性质和最佳逼近的特征之间的关系.作为推论,我们得到了广义限制最佳逼近的Kolmogorov型和“零属于凸包”型等特征定理.
关键词
强CHIP
最佳逼近
次强内点条件
广义
限制
域
Keywords
The best approximation
Strong-CHIP
Sub-strong interior point condition
分类号
O174.41 [理学—数学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
强CHIP性质和广义限制域逼近的特征
方东辉
李冲
杨文善
《数学学报（中文版）》
SCIE
CSCD
北大核心
2004
2
原文传递
已选择
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