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小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度 被引量：7
1
作者 李志宏 巩雁军 +7 位作者 吴东 孙予罕 王俊 柳义 董宝中 WANG JUN LIU YI DONG Bao-Zhong 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第6期1128-1131,共4页
溶胶界面层厚度通常是用Porod法对高角区负偏离的Porod曲线进行拟合求算 ,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度 .
关键词 小角X射线散射 溶胶 平均界面厚度 二氧化硅溶胶 Porod法 曲线拟合
原文传递
小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度
2
作者 李志宏 巩雁军 +4 位作者 吴东 孙予罕 王俊 柳义 董宝中 《Beijing Synchrotron Radiation Facility》 2001年第2期43-46,共4页
溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算，但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的... 溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算，但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度。 展开更多
关键词 小角X射线散射法 溶胶 测定 平均界面厚度
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