鉴于X’Pert Pro MRD多晶X射线衍射仪的样品台5维可移动,研究了样品的位置对物相测试中谱线峰强度和峰位的影响.结果表明,样品表面低于或者高于光路中心,都会造成谱图峰位的偏移,对峰强度影响不明显.当样品表面低于光路中心位置时,峰位...鉴于X’Pert Pro MRD多晶X射线衍射仪的样品台5维可移动,研究了样品的位置对物相测试中谱线峰强度和峰位的影响.结果表明,样品表面低于或者高于光路中心,都会造成谱图峰位的偏移,对峰强度影响不明显.当样品表面低于光路中心位置时,峰位呈减小趋势.当样品表面高于光路中心位置时,峰位呈增加趋势.当水平位置放置了不同厚度的样品进行批处理测试时,谱线的峰强度会受到最厚的样品的影响,峰位的变化不明显.展开更多
文摘鉴于X’Pert Pro MRD多晶X射线衍射仪的样品台5维可移动,研究了样品的位置对物相测试中谱线峰强度和峰位的影响.结果表明,样品表面低于或者高于光路中心,都会造成谱图峰位的偏移,对峰强度影响不明显.当样品表面低于光路中心位置时,峰位呈减小趋势.当样品表面高于光路中心位置时,峰位呈增加趋势.当水平位置放置了不同厚度的样品进行批处理测试时,谱线的峰强度会受到最厚的样品的影响,峰位的变化不明显.