期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
嵌入式存储器测试方法研究 被引量：5
1
作者 李金凤 曹顺 汪滢 《计量与测试技术》 2004年第12期12-14,共3页
本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障 ,字内耦合故障 ,字间耦合故障的测试算法 ,并综合得到最优的动态字存储器测试算法。通过Ver ilogHDL语言仿真了一个 2k 4 12 8的故障动态存储器 ,测试时采用存储器的... 本文描述了动态字存储器测试的故障模型并分别分析了其单个单元故障 ,字内耦合故障 ,字间耦合故障的测试算法 ,并综合得到最优的动态字存储器测试算法。通过Ver ilogHDL语言仿真了一个 2k 4 12 8的故障动态存储器 ,测试时采用存储器的BIST结构 ,实验的结果表明该测试方法对所有故障的覆盖率均为 10 0 %。 展开更多
关键词 嵌入式存储器 故障模型 BIST 字内耦合故障 字间耦合故障
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部