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题名基于多site测试的安全芯片加密数据实时下载
被引量：2
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作者
侯政嘉
张琳
刘炜
吉国凡
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机构
北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
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出处
《微处理机》
2009年第6期8-10,共3页
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基金
2008年北京市优秀人才培养资助(D类)项目(20081d1100500335)
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文摘
首先概述了信息安全芯片的结构、特点及在生产测试中的难点。在生产过程中,自动下载密码时,信息安全芯片可以根据密码算法的具体情况,采用不同的方法生成测试图形。并重点介绍了在生产测试中实时生成信息安全芯片的测试图形的一种方法。该方法从生成特定的安全算法密码到对芯片进行密码写入都是自动的、连续的、实时的。并利用多site进行生产测试,提高测试效率,节约测试成本。通过在泰瑞达J750测试平台上对一款信息安全芯片的量产测试,证明该方法是可行的,高效的。
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关键词
信息安全芯片
测试图形
公钥密码
生产测试
多site
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Keywords
Information security chip
Test pattern
Production test
Multi site
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分类号
TN4
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名DFT类IC的多SITE高效测试研究
被引量：1
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作者
孙恺凡
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机构
中国电子科技集团公司第
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出处
《电子与封装》
2016年第1期9-11,共3页
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文摘
介绍了多SITE的测试技术,实现了对DFT类电路的SCAN测试。详细讨论了DFT类电路的硬件和软件设计过程及测试难点,针对测试过程中可能会遇到的信号干扰问题给出解决方法并得到良好的效果。多SITE测试大幅度提高了测试效率,减少了测试成本。
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关键词
DFT
多site
测试效率
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Keywords
DFT
multi site
test efficiency
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名一种串并结合的多Site熔丝编程算法
- 3
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作者
张亚军
陶雪峰
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机构
中国电子科技集团公司第
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出处
《电子与封装》
2013年第3期16-19,27,共5页
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文摘
随着集成电路产业的迅猛发展,熔丝修调越来越广泛地应用于集成电路测试工序,熔丝段数目随着需要修调参数的增多而逐步增长,传统的串行熔丝编程方案程序存在代码长、可维护性差、执行时间长等缺点,为了改进代码的可读性和可维护性,文章引进了改进型算法,但对测试执行时间没有任何改善。随着测试代工市场竞争日益激烈,多Site测试方案被广泛使用,但是熔丝编程还继续着串行编程的老算法,Site数目越多,熔丝编程时间越长。针对以上,文章提出了一种串并结合的多Site熔丝编程算法,将多Site熔丝编程时间控制在和单Site熔丝串行编程时间几乎一致。
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关键词
串并结合
多site
熔丝编程
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Keywords
serial parallel combination
multisite
fuse trimming
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名并行LED驱动电路的多SITE测试方法
被引量：1
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作者
张鹏辉
周冬雁
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机构
中国电子科技集团公司第
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出处
《电子与封装》
2013年第4期14-17,共4页
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文摘
并行LED驱动电路的多SITE测试对系统资源和测试速度有较高要求,文章介绍了并行LED驱动电路的工作方式、常见测试参数以及常见参数的测试方法。探讨了在中测阶段进行多SITE测试的方法,对该类电路多SITE测试中的一些难点进行了分析,并提出了一种新的测试方案。该测试方案通过资源复用的方式,采用最新的切换技术,可以有效提高测试准确性,并提高测试效率,降低测试成本。最后介绍了多SITE测试的一些其他要点以及最终的测试结果。
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关键词
LED驱动电路
多site测试
ADG408
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Keywords
LED driving IC
multi-site test
ADG408
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名高效率并行熔丝方案的设计
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作者
曾祥峻
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机构
中国电子科技集团公司第
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出处
《电子与封装》
2015年第12期16-19,共4页
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文摘
随着集成电路的迅速发展,熔丝在电路设计中应用普遍,测试对熔丝的要求也越来越高,需要更好的准确度和更快的效率。熔丝可以修调的参数当然也取决于该熔丝在电路中的作用,输出电压、参考电压是最为常见的修调参数,此外如基准频率、电流等也都可以通过修调做到很高的精度。简单介绍了常见的熔丝以及其作用,常用的熔丝并行测试的优势和缺陷,提出了在大于4 site测试时,进一步提高熔丝修调准确性以及修调速度的测试方法。
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关键词
熔丝编程
并行测试
多site测试
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Keywords
fuse trimming
multi site
parallel test
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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