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集成电路并行测试适配器设计技术
1
作者 侯政嘉 刘炜 +1 位作者 石志刚 吉国凡 《微处理机》 2007年第6期13-14,共2页
重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。
关键词 并行测试适配器 多管芯 PCB板设计
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