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基于V93000的现场可编程门阵列测试时间优化方法 被引量：3
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作者 肖艳梅 陆锋 解维坤 《测试技术学报》 2019年第1期88-92,共5页
对于现场可编程门阵列FPGA,测试配置时间远大于加测试向量的时间,为实现FPGA快速配置测试,本文提出了一种FPGA测试时间优化方法:采用Advantest公司V93000自动测试设备,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优... 对于现场可编程门阵列FPGA,测试配置时间远大于加测试向量的时间,为实现FPGA快速配置测试,本文提出了一种FPGA测试时间优化方法:采用Advantest公司V93000自动测试设备,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式),并结合FPGA多帧写位流压缩方法对电路测试配置的编程加载时间进行优化;以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证,测试数据表明:采用V93000SoC测试系统的4X配置方式,FPGA的单次配置时间减少了74.1%;为了满足量产测试对于测试时间的要求,进一步提出V93000的4X配置方式与FPGA的位流压缩相结合的方法,FPGA的单次配置时间由1.047s减少到47.834ms,测试时间压缩了95.5%.该方法有效减少了FPGA单次测试时间,提高了在系统配置速度. 展开更多
关键词 自动测试设备 现场可编程门阵列 4X配置方式 多帧写位流压缩 测试配置时间
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