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多层样品的PTR理论及其埋层厚度的非接触测量
被引量:
3
1
作者
李佩赞
吴志明
+1 位作者
郑小明
管国兴
《红外研究》
CSCD
北大核心
1990年第3期215-220,共6页
从理论上推导了一般情况下多层样品PTR信号的解析式,分析了光学不透明三层样品。用推导的振幅和位相表达式拟合三层样品的实验数据,并计算出中间层的厚度。
关键词
光热辐射测量
多层
样品
振幅
红外探测
下载PDF
职称材料
电磁开腔测量多层介质样品复介电常数
被引量:
1
2
作者
夏军
梁昌洪
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第9期60-63,共4页
本文提出了一种在毫米波和亚毫米波频段利用电磁开腔测量多层介质样品复介电常数的新方法,在ka波段利用特制的开腔装置建立了一套电磁开腔电介质参数测量系统,并对一些多层介质样品进行了实际测量。测量结果与标称值十分吻合。
关键词
电磁开腔
介电常数
多层
介质
样品
测量
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职称材料
使用在线基本参数法对多层合金薄膜样品的成分和膜厚同时定量分析已成为现实
被引量:
1
3
《冶金标准化与质量》
2005年第2期23-24,共2页
在X荧光光谱分析中,为分析多层合金薄膜的成分和膜厚,需要标准样品和建立工作曲线等有许多繁琐的问题。使用在线基本参数法对多层合金薄膜样品的成分和膜厚的同时分析已成为现实。介绍使用配备于岛津顺序扫描X射线荧光光谱仪的薄膜FP法。
关键词
荧光光谱分析
多层
合金薄膜
样品
成分
膜厚
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职称材料
题名
多层样品的PTR理论及其埋层厚度的非接触测量
被引量:
3
1
作者
李佩赞
吴志明
郑小明
管国兴
机构
苏州大学物理系
出处
《红外研究》
CSCD
北大核心
1990年第3期215-220,共6页
文摘
从理论上推导了一般情况下多层样品PTR信号的解析式,分析了光学不透明三层样品。用推导的振幅和位相表达式拟合三层样品的实验数据,并计算出中间层的厚度。
关键词
光热辐射测量
多层
样品
振幅
红外探测
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
电磁开腔测量多层介质样品复介电常数
被引量:
1
2
作者
夏军
梁昌洪
机构
北京理工大学电子工程系
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第9期60-63,共4页
基金
国家教委博士学科点基金
文摘
本文提出了一种在毫米波和亚毫米波频段利用电磁开腔测量多层介质样品复介电常数的新方法,在ka波段利用特制的开腔装置建立了一套电磁开腔电介质参数测量系统,并对一些多层介质样品进行了实际测量。测量结果与标称值十分吻合。
关键词
电磁开腔
介电常数
多层
介质
样品
测量
Keywords
Electromagnetic open resonator,Complex source-point theory,Multilayered dielectric sample,Dielectric measurement
分类号
O441.5 [理学—电磁学]
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职称材料
题名
使用在线基本参数法对多层合金薄膜样品的成分和膜厚同时定量分析已成为现实
被引量:
1
3
出处
《冶金标准化与质量》
2005年第2期23-24,共2页
文摘
在X荧光光谱分析中,为分析多层合金薄膜的成分和膜厚,需要标准样品和建立工作曲线等有许多繁琐的问题。使用在线基本参数法对多层合金薄膜样品的成分和膜厚的同时分析已成为现实。介绍使用配备于岛津顺序扫描X射线荧光光谱仪的薄膜FP法。
关键词
荧光光谱分析
多层
合金薄膜
样品
成分
膜厚
Keywords
spectrofluorimetry
multilayer alloy film sample
composition
film thickness
分类号
TG115 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多层样品的PTR理论及其埋层厚度的非接触测量
李佩赞
吴志明
郑小明
管国兴
《红外研究》
CSCD
北大核心
1990
3
下载PDF
职称材料
2
电磁开腔测量多层介质样品复介电常数
夏军
梁昌洪
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996
1
下载PDF
职称材料
3
使用在线基本参数法对多层合金薄膜样品的成分和膜厚同时定量分析已成为现实
《冶金标准化与质量》
2005
1
下载PDF
职称材料
已选择
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参考文献
引证文献
统计分析
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