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题名多光路下基于RGB三通道的手机壳表面缺陷检测
被引量：2
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作者
刘源泂
雷娇
王兴东
汤勃
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机构
武汉科技大学冶金装备及其控制教育部重点实验室
武汉科技大学机械传动与制造工程湖北省重点实验室
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出处
《机械设计与制造》
北大核心
2020年第10期162-165,170,共5页
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基金
国家自然科学基金:资助项目(51874217)。
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文摘
针对手机壳表面缺陷类型多样、光学性质不一的特点,分析研究了各类缺陷最佳成像光路,基于彩色相机RGB三通道,设计了三工位光源照明系统,将单色红光暗场成像光路、单色绿光暗场成像光路、单色蓝光同轴光成像光路组合对金属手机壳表面进行照明;然后基于RGB颜色空间将获取的彩色图像分离为三幅单分量图像,对各个通道图像进行预处理,利用Canny算子进行缺陷边缘检测提取特征,最后将三通道图像识别结果融合实现缺陷检测。实验结果表明:该方法能有效凸显手机壳表面的凹坑、斑点、不同方向的划痕等对应缺陷特征,设计的图像处理算法流程具有针对性,实验系统有效节约空间和硬件成本。
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关键词
手机壳表面缺陷
暗场成像
多光路组合照明系统
RGB颜色空间
边缘检测
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Keywords
Surface Defects of Mobile Phone Shell
Dark Field Imaging
Multi-light Channel Combination Lighting System
RGB Color Space
Edge Detection
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分类号
TH16
[机械工程—机械制造及自动化]
TP391.4
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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