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题名基于合并时钟域的片上时钟描述优化方法
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作者
刘洁
李锦明
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机构
中北大学半导体与物理学院
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出处
《微电子学与计算机》
2024年第7期104-109,共6页
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基金
装发基础研究(514010504-308)。
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文摘
多时钟域的可测试性设计有两种描述片上时钟(On Chip Clock,OCC)行为的方法:时钟控制定义(Clock Control Definition,CCD)和命名捕获过程(Named Capture Procedure,NCP)。但这两种方法都存在不足:CCD无法定义复杂的时钟方案和捕获方案;NCP所需的测试向量数目多,运行时间久。有鉴于此,提出了一种合并时钟域NCP方法。合并时钟域NCP提高了对时钟、捕获方案、流程的可控性,弥补了CCD不可控的不足。实验数据表明,合并时钟域NCP在不影响覆盖率的情况下,为固定型故障(Stuck At Fault,SAF)节省约28%的测试向量数量和22%的运行时间,为跳变延迟型故障(Transition Delay Fault,TDF)节省约18%的测试向量数量和13%的运行时间,提升了测试向量的效率,弥补了NCP的不足。
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关键词
多时钟域
可测试性设计
片上时钟
合并时钟域ncp
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Keywords
multiple clock domains
testable design
on chip clock
combined clock domain ncp
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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