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VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 被引量：6
1
作者 沈理 《计算机工程与科学》 CSCD 2003年第1期92-97,共6页
CMOS器件进入深亚微米阶段,VLSI集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在制造、设计、封装、测试上都面临新的挑战。测试已从IC设计流程的后端移至前端,VLSI芯片可测试性设计已成为IC设计中必不可少的一部分。本文介... CMOS器件进入深亚微米阶段,VLSI集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在制造、设计、封装、测试上都面临新的挑战。测试已从IC设计流程的后端移至前端,VLSI芯片可测试性设计已成为IC设计中必不可少的一部分。本文介绍近几年来VLSI芯片可测试性设计的趋势,提出广义可测试性设计(TDMS技术)概念,即可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计,并对可调试性设计方法学和广义可测试性设计的系统化方法作了简单介绍。 展开更多
关键词 VLSI芯片 可测试性 可调试性 可制造性 可维护性 设计 超大规模集成电路
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一种波导低通滤波器的设计
2
作者 杨龙 高宝建 张跃军 《陕西师范大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2007年第S2期63-65,共3页
波导低通滤波器是微波网络中的重要元件.在实际的工程应用中,要得到某频率响应所对应的滤波器结构的精确尺寸非常困难.于是在滤波器的设计中,必须考虑所设计的滤波器的可调试性.对一种用螺钉来实现滤波的低通滤波器进行理论分析,针对某... 波导低通滤波器是微波网络中的重要元件.在实际的工程应用中,要得到某频率响应所对应的滤波器结构的精确尺寸非常困难.于是在滤波器的设计中,必须考虑所设计的滤波器的可调试性.对一种用螺钉来实现滤波的低通滤波器进行理论分析,针对某一频段进行滤波器的设计,并用实物的实验结果来验证设计. 展开更多
关键词 低通滤波器 可调试性 螺钉
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超大规模集成电路可调试性设计综述 被引量：3
3
作者 钱诚 沈海华 +1 位作者 陈天石 陈云霁 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2012年第1期21-34,共14页
随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试性设计已经成为集成电路设计中的重要内容.一方面,仅靠传统的硅前验证已经无法保证现代超大规模复杂集成电路设计验证的质量,因此作为硅后验证重要支撑技术的可调试性设计... 随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试性设计已经成为集成电路设计中的重要内容.一方面,仅靠传统的硅前验证已经无法保证现代超大规模复杂集成电路设计验证的质量,因此作为硅后验证重要支撑技术的可调试性设计日渐成为大规模集成电路设计领域的研究热点.另一方面,并行程序的调试非常困难,很多细微的bug无法直接用传统的单步、断点等方法进行调试,如果没有专门的硬件支持,需要耗费极大的人力和物力.全面分析了现有的可调试性设计,在此基础上归纳总结了可调试性设计技术的主要研究方向并介绍了各个方向的研究进展,深入探讨了可调试性结构设计研究中的热点问题及其产生根源,给出了可调试性结构设计领域的发展趋势. 展开更多
关键词 调试 验证 硅后验证 并行程序调试 可调试性设计
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基于扫描链的可编程片上调试系统 被引量：1
4
作者 陈华军 娄卓阳 +2 位作者 王焕东 刘慧 王琳 《高技术通讯》 CAS CSCD 北大核心 2015年第6期584-592,共9页
研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术,考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力,导致故障诊断的结果很不准确,提出一种基于扫描链的新的可编程片上调试系统。该系统充分利用芯片的片上传输总线,通过添加极少的硬... 研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术,考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力,导致故障诊断的结果很不准确,提出一种基于扫描链的新的可编程片上调试系统。该系统充分利用芯片的片上传输总线,通过添加极少的硬件电路,使芯片能够实时监测自身的运行状态,并在满足程序设定的条件后,自动触发故障诊断模式。该系统充分利用芯片内建扫描链,通过控制扫描链实现对芯片内部状态精确配置和观测。此外,该系统通过片上时钟电路对调试时钟进行精确控制,保证各模式时钟切换的正确性,同时还支持实速测试,为时序分析和调试提供新途径。该系统已在最新一款龙芯高性能通用处理器芯片上得到成功应用。 展开更多
关键词 硅后调试 片上调试系统 可编程 可调试性设计 故障诊断 实速测试
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一种面向多核处理器的通用可调试性架构 被引量：1
5
作者 杨旭 刘江 +4 位作者 钱诚 苏孟豪 吴瑞阳 陈云霁 胡伟武 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2011年第10期1656-1664,共9页
硅后调试对于当代集成电路设计变得日益重要,用于辅助硅后调试的可调式性设计(DFD)应运而生.由于多核处理器往往包含多种不同类型的部件,每个部件都有各自的调试功能需求,极大地提高了可调式性设计的复杂度.针对上述问题,提出一种面向... 硅后调试对于当代集成电路设计变得日益重要,用于辅助硅后调试的可调式性设计(DFD)应运而生.由于多核处理器往往包含多种不同类型的部件,每个部件都有各自的调试功能需求,极大地提高了可调式性设计的复杂度.针对上述问题,提出一种面向片上多核处理器的通用可调试性架构.该架构使用简单的监测器来监测和控制处理器中用于互连的片上网络,通过专门的调试总线将各个监测器与调试总控模块连接在一起,并使用EJTAG通用调试接口与外部调试主机传递信息.与传统的可调试性架构相比,该架构无需片上RAM,硬件代价低,具有模块化的特性.此外,文中提出的架构采用了工业界通用的EJTAG调试接口,因此通用性较高,已经被应用于龙芯-3B多核处理器中.实验结果显示,该架构可以在高频高数据带宽的环境下工作. 展开更多
关键词 多核 片上网络 可调试性设计 硅后调试
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