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基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法 被引量：1
1
作者 张绍明 施广宇 彭宇霞 《无损检测》 CAS 2021年第9期16-21,共6页
研究了基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法,并评估了套管受潮状态。利用分布式频域介电谱测量方法,分析了在0.1Hz和1Hz频率下不同含水量套管模型介损随测试电压的变化规律,以及内外层受潮套管介质损耗角正切... 研究了基于Havriliak-Negami模型的受潮套管分布式频域介电谱测量方法,并评估了套管受潮状态。利用分布式频域介电谱测量方法,分析了在0.1Hz和1Hz频率下不同含水量套管模型介损随测试电压的变化规律,以及内外层受潮套管介质损耗角正切值的分布规律,利用Havriliak-Negami模型拟合了不同含水量油浸式受潮缺陷套管频域介电谱参数。试验结果表明,随电压升高,含水量越大的套管,低频介损线性增加幅度越大;弛豫时间常数随水分含量增加而减小,水分含量满足对数线性关系;末屏接头与套管次末屏之间电容实部对套管外层受潮非常敏感;导杆-次末屏电容对套管内层受潮非常敏感,确定受潮部位对套管受潮诊断具有重要意义。 展开更多
关键词 Havriliak-Negami模型 受潮套管 分布式频域 介电谱
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