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利用P-偏振光双面反射法测量多层膜的光学参数 被引量：2
1
作者 刘晓林 梁培辉 +2 位作者 张伟清 唐永兴 孙今人 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期607-611,共5页
利用Ｐ－偏振光双面反射法测量了浸泡提拉法制备的“有机硅树脂－二氧化硅－有机硅树脂”三层膜样品两面Ｐ－偏振光反射光强比γ与入射角θｉ关系曲线，经过数据拟合，确定了这三层薄膜的光学参数，同时研究了薄膜间的相互作用层的光学... 利用Ｐ－偏振光双面反射法测量了浸泡提拉法制备的“有机硅树脂－二氧化硅－有机硅树脂”三层膜样品两面Ｐ－偏振光反射光强比γ与入射角θｉ关系曲线，经过数据拟合，确定了这三层薄膜的光学参数，同时研究了薄膜间的相互作用层的光学参数。测量结果表明此方法可能成为研究薄膜和膜层之间相互作用的一种新手段。 展开更多
关键词 P-偏振光 多层膜系 光学参数 双面反射法
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