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太赫兹双轴共焦扫描显微成像轴向特性分析
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作者 杨永发 李琦 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第B12期172-177,共6页
太赫兹双轴共焦扫描显微成像系统能够提高反射式共焦扫描显微系统的分辨率，为保证成像系统性能，需要合理选择离轴抛面镜组的直径、焦距和入射角等参数。提出了一种2.52 THz双轴共焦扫描显微成像实验方案，仿真研究了主要系统参数对成... 太赫兹双轴共焦扫描显微成像系统能够提高反射式共焦扫描显微系统的分辨率，为保证成像系统性能，需要合理选择离轴抛面镜组的直径、焦距和入射角等参数。提出了一种2.52 THz双轴共焦扫描显微成像实验方案，仿真研究了主要系统参数对成像系统分辨率的影响，并在所确定的系统参数条件下，计算分析了探测器位置偏移对系统轴向特性的影响。结果表明，当探测器轴向偏移在-1.73～1.73 mm范围内时，光强不小于探测器正好位于焦点处时光强最大值的80%；当探测器横向偏移范围在-0.03～0.03 mm范围内时，分辨率基本不变，响应峰值的微小偏移可以忽略。 展开更多
关键词 成像系统 太赫兹成像 双轴共焦扫描显微 分辨率 轴向响应特性
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