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双应力恒加寿命试验下相依竞争失效模型的统计分析
被引量:
3
1
作者
王燕
师义民
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2020年第11期2644-2653,共10页
针对传统加速寿命试验仅考虑单一应力且假定产品各失效机理之间独立的问题,首先结合自适应逐步Ⅱ型混合截尾(adaptive type-Ⅱ progressively hybrid censored scheme,AT-Ⅱ PHCS)寿命试验,建立AT-Ⅱ PHCS双应力恒加寿命试验。其次,利用...
针对传统加速寿命试验仅考虑单一应力且假定产品各失效机理之间独立的问题,首先结合自适应逐步Ⅱ型混合截尾(adaptive type-Ⅱ progressively hybrid censored scheme,AT-Ⅱ PHCS)寿命试验,建立AT-Ⅱ PHCS双应力恒加寿命试验。其次,利用Marshall-Olkin二维Gompertz (Marshall-Olkin bivariate Gompertz,MOBG)分布构建产品失效机理间相依关系。然后,基于AT-Ⅱ PHCS双应力加速寿命试验下相依竞争失效数据,利用极大似然理论,计算了参数的极大似然估计(maximum likelihood estimation,MLE),采用渐近似然理论和Bootstrap抽样方法构建参数的置信区间(confidence interval,CI)。最后,结合一个实例对构建的相依竞争失效模型进行了算例验证,结果表明其具有很好的统计推断性能。
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关键词
双
应力
恒
加
寿命试验
相依竞争失效模型
Marshall-Olkin二维Gompertz分布
极大似然估计
BOOTSTRAP方法
下载PDF
职称材料
数控印制电路板加速寿命试验与统计分析
被引量:
3
2
作者
解传宁
唐小琦
+1 位作者
金健
张航军
《华中科技大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期1-6,共6页
针对影响数控印制电路板寿命的温度应力和线路设计因素,通过对印制电路板进行失效分析,探讨印制电路板寿命与温度和导线间距的关系,进而从失效机理角度推导出数控印制电路板综合应力作用下的加速寿命试验参数模型.基于统计检验方法,利...
针对影响数控印制电路板寿命的温度应力和线路设计因素,通过对印制电路板进行失效分析,探讨印制电路板寿命与温度和导线间距的关系,进而从失效机理角度推导出数控印制电路板综合应力作用下的加速寿命试验参数模型.基于统计检验方法,利用恒定双应力加速寿命试验数据,对威布尔分布下双应力加速寿命试验数据进行统计分析.试验结果表明:建立的加速寿命模型能较好地描述数控印制电路板寿命特征在双应力作用下的变化规律,为数控系统可靠性增长奠定基础.
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关键词
数控印制电路板
双
应力
加
速
寿命试验
加
速
寿命
模型
可靠性
失效分析
原文传递
恒应力加速寿命试验中无失效数据的处理
被引量:
2
3
作者
严拴航
师义民
《纯粹数学与应用数学》
CSCD
北大核心
2006年第2期145-148,197,共5页
对恒应力加速寿命试验中W eibu ll分布无失效数据,合理地构造了失效概率的两种先验分布,并结合现场试验数据,利用极大似然方法和Bayes方法对该组无失效数据进行了处理,所得结果表明本文给出的方法是正确可行的.
关键词
恒
应力
加
速
寿命试验
先验分布
BAYES方法
后验分布
下载PDF
职称材料
内压管的可靠寿命评估
4
作者
王海燕
陆伟国
+1 位作者
高建军
马小兵
《核标准计量与质量》
2013年第2期37-42,共6页
以定时截尾恒应力加速寿命试验所获得的失效数据为基础,通过整体分析方法对实际工况条件下内压管的可靠寿命进行了评估,对内压管大批量工程化应用具有实际的参考价值。
关键词
内压管
恒
应力
加
速
寿命试验
可靠
寿命
评估
原文传递
题名
双应力恒加寿命试验下相依竞争失效模型的统计分析
被引量:
3
1
作者
王燕
师义民
机构
西北工业大学数学与统计学院
西安工程大学理学院
出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2020年第11期2644-2653,共10页
基金
国家自然科学基金(71571144,71401134)资助课题。
文摘
针对传统加速寿命试验仅考虑单一应力且假定产品各失效机理之间独立的问题,首先结合自适应逐步Ⅱ型混合截尾(adaptive type-Ⅱ progressively hybrid censored scheme,AT-Ⅱ PHCS)寿命试验,建立AT-Ⅱ PHCS双应力恒加寿命试验。其次,利用Marshall-Olkin二维Gompertz (Marshall-Olkin bivariate Gompertz,MOBG)分布构建产品失效机理间相依关系。然后,基于AT-Ⅱ PHCS双应力加速寿命试验下相依竞争失效数据,利用极大似然理论,计算了参数的极大似然估计(maximum likelihood estimation,MLE),采用渐近似然理论和Bootstrap抽样方法构建参数的置信区间(confidence interval,CI)。最后,结合一个实例对构建的相依竞争失效模型进行了算例验证,结果表明其具有很好的统计推断性能。
关键词
双
应力
恒
加
寿命试验
相依竞争失效模型
Marshall-Olkin二维Gompertz分布
极大似然估计
BOOTSTRAP方法
Keywords
double constant-stress accelerated life test
dependent competing risks model
Marshall-Olkin bivariate Gompertz(MOBG)distribution
maximum likelihood estimation(MLE)
Bootstrap method
分类号
O213.2 [理学—概率论与数理统计]
下载PDF
职称材料
题名
数控印制电路板加速寿命试验与统计分析
被引量:
3
2
作者
解传宁
唐小琦
金健
张航军
机构
华中科技大学机械科学与工程学院
出处
《华中科技大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期1-6,共6页
基金
国家重大科技专项资助项目(2012ZX04001012)
广东省部产学研重大专项资助项目(2012A090300012)
文摘
针对影响数控印制电路板寿命的温度应力和线路设计因素,通过对印制电路板进行失效分析,探讨印制电路板寿命与温度和导线间距的关系,进而从失效机理角度推导出数控印制电路板综合应力作用下的加速寿命试验参数模型.基于统计检验方法,利用恒定双应力加速寿命试验数据,对威布尔分布下双应力加速寿命试验数据进行统计分析.试验结果表明:建立的加速寿命模型能较好地描述数控印制电路板寿命特征在双应力作用下的变化规律,为数控系统可靠性增长奠定基础.
关键词
数控印制电路板
双
应力
加
速
寿命试验
加
速
寿命
模型
可靠性
失效分析
Keywords
numerical control printed circuit boards
double stress accelerated life test
acceleratedlife model
reliability
failure
分类号
TP114.3 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
原文传递
题名
恒应力加速寿命试验中无失效数据的处理
被引量:
2
3
作者
严拴航
师义民
机构
西北工业大学应用数学系
出处
《纯粹数学与应用数学》
CSCD
北大核心
2006年第2期145-148,197,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.70471057)
陕西省教育厅自然科学基金资助项目(No.03JK065)
文摘
对恒应力加速寿命试验中W eibu ll分布无失效数据,合理地构造了失效概率的两种先验分布,并结合现场试验数据,利用极大似然方法和Bayes方法对该组无失效数据进行了处理,所得结果表明本文给出的方法是正确可行的.
关键词
恒
应力
加
速
寿命试验
先验分布
BAYES方法
后验分布
Keywords
constant stress accelerated life testing, prior distribution, means of Bayes, posterior distribution
分类号
O213.2 [理学—概率论与数理统计]
下载PDF
职称材料
题名
内压管的可靠寿命评估
4
作者
王海燕
陆伟国
高建军
马小兵
机构
核工业第八研究所
北京航空航天大学
出处
《核标准计量与质量》
2013年第2期37-42,共6页
文摘
以定时截尾恒应力加速寿命试验所获得的失效数据为基础,通过整体分析方法对实际工况条件下内压管的可靠寿命进行了评估,对内压管大批量工程化应用具有实际的参考价值。
关键词
内压管
恒
应力
加
速
寿命试验
可靠
寿命
评估
分类号
TL32 [核科学技术—核技术及应用]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
双应力恒加寿命试验下相依竞争失效模型的统计分析
王燕
师义民
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
北大核心
2020
3
下载PDF
职称材料
2
数控印制电路板加速寿命试验与统计分析
解传宁
唐小琦
金健
张航军
《华中科技大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013
3
原文传递
3
恒应力加速寿命试验中无失效数据的处理
严拴航
师义民
《纯粹数学与应用数学》
CSCD
北大核心
2006
2
下载PDF
职称材料
4
内压管的可靠寿命评估
王海燕
陆伟国
高建军
马小兵
《核标准计量与质量》
2013
0
原文传递
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