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双应力恒加寿命试验下相依竞争失效模型的统计分析 被引量:3
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作者 王燕 师义民 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 北大核心 2020年第11期2644-2653,共10页
针对传统加速寿命试验仅考虑单一应力且假定产品各失效机理之间独立的问题,首先结合自适应逐步Ⅱ型混合截尾(adaptive type-Ⅱ progressively hybrid censored scheme,AT-Ⅱ PHCS)寿命试验,建立AT-Ⅱ PHCS双应力恒加寿命试验。其次,利用... 针对传统加速寿命试验仅考虑单一应力且假定产品各失效机理之间独立的问题,首先结合自适应逐步Ⅱ型混合截尾(adaptive type-Ⅱ progressively hybrid censored scheme,AT-Ⅱ PHCS)寿命试验,建立AT-Ⅱ PHCS双应力恒加寿命试验。其次,利用Marshall-Olkin二维Gompertz (Marshall-Olkin bivariate Gompertz,MOBG)分布构建产品失效机理间相依关系。然后,基于AT-Ⅱ PHCS双应力加速寿命试验下相依竞争失效数据,利用极大似然理论,计算了参数的极大似然估计(maximum likelihood estimation,MLE),采用渐近似然理论和Bootstrap抽样方法构建参数的置信区间(confidence interval,CI)。最后,结合一个实例对构建的相依竞争失效模型进行了算例验证,结果表明其具有很好的统计推断性能。 展开更多
关键词 应力寿命试验 相依竞争失效模型 Marshall-Olkin二维Gompertz分布 极大似然估计 BOOTSTRAP方法
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数控印制电路板加速寿命试验与统计分析 被引量:3
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作者 解传宁 唐小琦 +1 位作者 金健 张航军 《华中科技大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第12期1-6,共6页
针对影响数控印制电路板寿命的温度应力和线路设计因素,通过对印制电路板进行失效分析,探讨印制电路板寿命与温度和导线间距的关系,进而从失效机理角度推导出数控印制电路板综合应力作用下的加速寿命试验参数模型.基于统计检验方法,利... 针对影响数控印制电路板寿命的温度应力和线路设计因素,通过对印制电路板进行失效分析,探讨印制电路板寿命与温度和导线间距的关系,进而从失效机理角度推导出数控印制电路板综合应力作用下的加速寿命试验参数模型.基于统计检验方法,利用恒定双应力加速寿命试验数据,对威布尔分布下双应力加速寿命试验数据进行统计分析.试验结果表明:建立的加速寿命模型能较好地描述数控印制电路板寿命特征在双应力作用下的变化规律,为数控系统可靠性增长奠定基础. 展开更多
关键词 数控印制电路板 应力寿命试验 寿命模型 可靠性 失效分析
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恒应力加速寿命试验中无失效数据的处理 被引量:2
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作者 严拴航 师义民 《纯粹数学与应用数学》 CSCD 北大核心 2006年第2期145-148,197,共5页
对恒应力加速寿命试验中W eibu ll分布无失效数据,合理地构造了失效概率的两种先验分布,并结合现场试验数据,利用极大似然方法和Bayes方法对该组无失效数据进行了处理,所得结果表明本文给出的方法是正确可行的.
关键词 应力寿命试验 先验分布 BAYES方法 后验分布
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内压管的可靠寿命评估
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作者 王海燕 陆伟国 +1 位作者 高建军 马小兵 《核标准计量与质量》 2013年第2期37-42,共6页
以定时截尾恒应力加速寿命试验所获得的失效数据为基础,通过整体分析方法对实际工况条件下内压管的可靠寿命进行了评估,对内压管大批量工程化应用具有实际的参考价值。
关键词 内压管 应力寿命试验 可靠寿命评估
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