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采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面
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作者 李博 李玲 +2 位作者 朱敬军 林炜平 安竹 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2022年第17期191-202,共12页
使用5-27 keV能量范围内的单能电子束轰击薄碳衬底上的薄Al (Z=13),Ti (Z=22),Cu (Z=29),Ag (Z=47),Au(Z=79)靶,使用硅漂移型探测器(SDD)收集产生的特征X射线,测量了Al,Ti,Cu的K壳层电离截面以及Cu,Ag和Au的L壳层特征X射线的产生截面,... 使用5-27 keV能量范围内的单能电子束轰击薄碳衬底上的薄Al (Z=13),Ti (Z=22),Cu (Z=29),Ag (Z=47),Au(Z=79)靶,使用硅漂移型探测器(SDD)收集产生的特征X射线,测量了Al,Ti,Cu的K壳层电离截面以及Cu,Ag和Au的L壳层特征X射线的产生截面,并且使用蒙特卡罗PENELOPE程序对实验结果进行了修正.本文给出了Cu的L壳层特征X射线产生截面.与半相对论扭曲波玻恩近似(semi-relativistic distorted-wave Born approximation,DWBA)理论值相比,本文的大多数实验值在7%的范围内与理论值符合.研究表明,中重元素的L壳电离截面的理论计算以及相应的原子参数有待更精确的确定. 展开更多
关键词 原子壳层电离 特征 X射线 截面 蒙特卡罗模拟
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原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析 被引量:4
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作者 段艳敏 吴英 +4 位作者 唐昶环 刘东剑 丁庆平 刘慢天 安竹 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2004年第6期1221-1224,共4页
作者使用241Amα标准源与卢瑟福背散射相结合的方法,对四川大学原子核科学技术研究所的2.5MeV静电加速器进行了能量刻度,并利用卢瑟福背散射方法测量了一系列Al衬底金属薄靶的厚度,所测结果与称重法进行了比较.作者将卢瑟福背散射方法... 作者使用241Amα标准源与卢瑟福背散射相结合的方法,对四川大学原子核科学技术研究所的2.5MeV静电加速器进行了能量刻度,并利用卢瑟福背散射方法测量了一系列Al衬底金属薄靶的厚度,所测结果与称重法进行了比较.作者将卢瑟福背散射方法所测厚度值运用到电子碰撞引起原子内壳层电离截面的测量工作中,取得了满意的结果. 展开更多
关键词 卢瑟福背散射(RBS) 能量刻度 电子碰撞 原子壳层电离截面
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正电子致电离截面实验中束流强度的在线测量 被引量:1
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作者 蓝文鸿 吴英 +3 位作者 杜永琪 刘泽坤 李臻 高峰 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第1期140-143,共4页
本文采用HPGe探测器实时收集了正电子碰撞厚Ti靶伴随产生的湮灭光子,并结合HPGe探测器对放置在碰撞点处^(22)Na标准源产生的511 keV湮灭光子的探测效率刻度值,得到了8~9.5 keV正电子引起Ti原子内壳层电离截面实验中正电子束流强度的实... 本文采用HPGe探测器实时收集了正电子碰撞厚Ti靶伴随产生的湮灭光子,并结合HPGe探测器对放置在碰撞点处^(22)Na标准源产生的511 keV湮灭光子的探测效率刻度值,得到了8~9.5 keV正电子引起Ti原子内壳层电离截面实验中正电子束流强度的实时测量结果。结果表明,在实验测量的38 h内,基于^(22)Na标准源慢正电子束流装置产生的正电子束流强度不稳定,随时间的变化有着不同程度的衰减,且存在小幅度波动现象。因此,低能正电子致原子内壳层电离截面实验中应采用在线法获取慢正电子束流强度。 展开更多
关键词 正电子束流强度 在线测量 正电子湮灭 原子壳层电离截面
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