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垂直入射条件下厚金属环结构的负磁导率与左手材料行为 被引量:8
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作者 刘亚红 宋娟 +2 位作者 罗春荣 付全红 赵晓鹏 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第2期934-939,共6页
用矩形波导法实验研究了微波垂直入射于具有一定厚度的金属铜圆环结构的微波电磁响应行为.结果表明,当金属铜环的厚度增加到一定值时,在中心频率为14·5GHz处出现透射禁带,并且相位在透射禁带处发生跃变.采用双各向异性媒质理论计... 用矩形波导法实验研究了微波垂直入射于具有一定厚度的金属铜圆环结构的微波电磁响应行为.结果表明,当金属铜环的厚度增加到一定值时,在中心频率为14·5GHz处出现透射禁带,并且相位在透射禁带处发生跃变.采用双各向异性媒质理论计算了铜圆环结构的磁导率随频率变化关系,在透射禁带处磁导率为负.对厚金属圆环与金属线一一对应组合的样品,微波沿环面垂直入射时测量到左手透射通带和相位超前,通带带宽达到1·5GHz,强度为-21dB. 展开更多
关键词 负磁导率 垂直入射 金属环结构 左手材料行为 矩形波导法
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