O436.3 97010099复合补偿法测量波片=Measurement of waveplate by combination compensation[刊,中]/薛庆文(济宁教育学院.山东,济宁(272117))∥量子电子学.—1996,13(2).—178介绍的复合补偿法是依据波片的复合理论,采用任意波片作为...O436.3 97010099复合补偿法测量波片=Measurement of waveplate by combination compensation[刊,中]/薛庆文(济宁教育学院.山东,济宁(272117))∥量子电子学.—1996,13(2).—178介绍的复合补偿法是依据波片的复合理论,采用任意波片作为补偿片。展开更多
O433.4 97063564傅里叶红外显微光谱技术测量HeCdTe晶片组分分布与截止波长分布=Distribution of the compositionand the cut-off wavelength of HgCdTe waferdetermined by Fourier transform infrared microscopy[刊,中]/胡晓宁,龚海...O433.4 97063564傅里叶红外显微光谱技术测量HeCdTe晶片组分分布与截止波长分布=Distribution of the compositionand the cut-off wavelength of HgCdTe waferdetermined by Fourier transform infrared microscopy[刊,中]/胡晓宁,龚海梅,李言谨。展开更多
文摘O436.3 97010099复合补偿法测量波片=Measurement of waveplate by combination compensation[刊,中]/薛庆文(济宁教育学院.山东,济宁(272117))∥量子电子学.—1996,13(2).—178介绍的复合补偿法是依据波片的复合理论,采用任意波片作为补偿片。
文摘O433.4 97063564傅里叶红外显微光谱技术测量HeCdTe晶片组分分布与截止波长分布=Distribution of the compositionand the cut-off wavelength of HgCdTe waferdetermined by Fourier transform infrared microscopy[刊,中]/胡晓宁,龚海梅,李言谨。
