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基于同步谐振器的COM参数提取 被引量:1
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作者 聂广琳 汤劲松 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2007年第4期376-378,共3页
介绍了一种基于单端同步谐振器、采用电测试方法实现漏波COM参数的提取技术。该同步谐振器中心频率为350 MHz,压电基片选用36°LT,铝、铜膜厚达240 nm。通过测试同步谐振器的导纳曲线来提取COM参数,并对提取出的COM参数进行了验证。
关键词 COM模型 漏波 同步谐振器 导纳
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