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题名基于多/单比特切换机制的LDPC码两级WBF算法
被引量：1
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作者
周华
张锐
葛旗伟
史传胜
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机构
南京信息工程大学电子与信息工程学院
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出处
《光通信研究》
2022年第2期12-17,73,共7页
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基金
国家自然科学基金资助项目(61771248)。
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文摘
为了提高低密度奇偶校验(LDPC)码的加权比特翻转(WBF)译码算法的译码速度和性能,文章提出了一种具有多/单比特切换机制的两级WBF译码算法。译码首先在第一级解码器中进行多比特翻转译码,当发现循环翻转或最大翻转函数值小于零时,跳到第二级解码器中进行单比特翻转继续译码,从而消除多比特的循环翻转和实现多比特向单比特译码的切换。仿真结果表明,与基于幅度和的加权比特翻转(SMWBF)译码算法以及基于变量节点更新的SMWBF(VSMWBF)译码算法相比,在加性高斯白噪声信道下,文章所提算法获得了平均迭代次数和译码性能的双增益。
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关键词
低密度奇偶校验码
加权比特翻转译码
多比特翻转
单比特翻转
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Keywords
LDPC code
WBF decoding
multi-bit flipping
single-bit flipping
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分类号
TN911.22
[电子电信—通信与信息系统]
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题名脉冲激光诱发SRAM单粒子翻转的故障模型分析
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作者
李悦
朱翔
姜会龙
韩建伟
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机构
中国科学院国家空间科学中心
中国科学院大学
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出处
《密码学报》
CSCD
2021年第6期1074-1081,共8页
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基金
国防科技创新特区项目(18-163-21-TS-001-066-01)。
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文摘
针对密码芯片开展故障攻击的关键在于针对存储资源故障模型的精准注入.利用高精度脉冲激光单粒子效应扫描测绘装置,对两款不同工艺尺寸的SRAM器件开展单粒子翻转故障模型试验研究,分析激光能量和存储数据类型对SRAM器件故障触发概率和故障模型分布概率的影响.试验结果表明,在3倍激光能量阈值下,可实现近90%的高故障触发概率,故障类型以多比特翻转为主;在激光能量阈值下,可实现近10%-30%的低故障触发概率,故障类型包含1-bit和2-bit翻转,且1-bit翻转类型所占比例高达80%;在覆盖多个存储单元的的局部区域,存储数据类型对诱发SRAM器件故障模型分布概率的影响较小.
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关键词
激光故障注入
SRAM
故障模型
单比特翻转
多比特翻转
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Keywords
laser fault injection
SRAM
fault model
single-bit upset(SBU)
multiple-bit upset(MBU)
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分类号
TP309.7
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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