期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
双步激光辐射提升纳秒激光抛光单晶硅的表面 被引量:7
1
作者 任英明 张志宇 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第7期212-219,共8页
单晶硅是一种重要的半导体材料。通常,铸锭切片后的单晶硅表面易产生较深的沟槽、凹坑和裂纹等缺陷。针对这一问题,提出了一种双步激光辐射的方法,其在修复表面缺陷的同时,可以降低表面粗糙度。首先,通过有限元法模拟对不同激光参数下... 单晶硅是一种重要的半导体材料。通常,铸锭切片后的单晶硅表面易产生较深的沟槽、凹坑和裂纹等缺陷。针对这一问题,提出了一种双步激光辐射的方法,其在修复表面缺陷的同时,可以降低表面粗糙度。首先,通过有限元法模拟对不同激光参数下可修复的缺陷深度进行预测。然后,在0.50 J/cm^(2)的较高能量密度下,利用较深的表面层熔化修复各种深度的表面缺陷。然而,由于高能量密度下引发的热毛细管流易造成高频特征残留在表面上,故会导致表面粗糙度增加。接着,使用一个0.20 J/cm^(2)的低能量密度再次辐射同一表面,可有效消除残留的高频特征。最终,原始表面粗糙度为1.057μm的表面经过双步激光辐射后可获得一个表面粗糙度为26 nm的无缺陷光滑表面。 展开更多
关键词 激光光学 单晶硅表面缺陷 纳秒激光辐射 有限元模拟 毛细管流动 表面张力
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部