期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
半绝缘GaAs光电导开关的瞬态热效应 被引量:8
1
作者 施卫 马湘蓉 薛红 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2010年第8期5700-5705,共6页
实验用波长1064nm,触发光能为1.0mJ的激光脉冲触发电极间隙为4mm的半绝缘GaAs光电导开关,当光电导开关的偏置电压达到3800V时,开关进入非线性(lock-on)工作模式,在偏置电场和触发光能不变的条件下,开关输出稳定的非线性电脉冲,1500次触... 实验用波长1064nm,触发光能为1.0mJ的激光脉冲触发电极间隙为4mm的半绝缘GaAs光电导开关,当光电导开关的偏置电压达到3800V时,开关进入非线性(lock-on)工作模式,在偏置电场和触发光能不变的条件下,开关输出稳定的非线性电脉冲,1500次触发后GaAs开关表面出现因丝状电流引起损伤的痕迹.分析认为:在一定触发光能和电场阈值条件下,开关芯片内存在两种瞬态热效应:热弛豫效应和光激发电荷畴-声子曳引效应.热弛豫时间很短,在皮秒甚至亚皮秒量级,热弛豫过程导致了热传导的弛豫行为;当光激发电荷畴以107cm/s的速度从阴极向阳极渡越时,在这两种效应的作用下使得开关芯片瞬态温度变化发生了弛豫振荡现象.光激发电荷畴-声子曳引效应在位错运动方向上传播,声子流携带的热能集中在移动的平面内,使得移动区域温度升高,移动轨迹经多次叠加累积呈现出丝状的损伤痕迹. 展开更多
关键词 绝缘gaas光电导开关 热弛豫效应 激发电荷畴-声子曳引效应 丝状电流
原文传递
沿面闪络和丝状电流对光电导开关的损伤机理 被引量:3
2
作者 马湘蓉 施卫 +1 位作者 薛红 纪卫莉 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2010年第10期129-135,共7页
通过对电极间隙为3mm和8mm半绝缘GaAs光电导开关损伤实验研究发现,引起开关损伤的主要机制是沿面闪络和丝状电流。沿面闪络是在高偏置电压条件下GaAs材料在热传导过程中表现的熔化?再结晶现象,对开关造成了致命性损伤;而丝状电流是开关... 通过对电极间隙为3mm和8mm半绝缘GaAs光电导开关损伤实验研究发现,引起开关损伤的主要机制是沿面闪络和丝状电流。沿面闪络是在高偏置电压条件下GaAs材料在热传导过程中表现的熔化?再结晶现象,对开关造成了致命性损伤;而丝状电流是开关在非线性工作模式下由于存在负微分电导效应(NDC),形成的高浓度电子?空穴等离子体通道,芯片内产热和冷却之间达到了动态平衡,开关处于光控预击穿状态,存在可恢复性和不可恢复性两类损伤。 展开更多
关键词 绝缘gaas光电导开关 沿面闪络 丝状电流 损伤
下载PDF
半绝缘GaAs光电导开关线性传输特性的研究 被引量:1
3
作者 施卫 徐鸣 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期39-40,42,共3页
实验研究了具有微带同轴联结方式的横向GaAs光电导开关 (触发光源用波长 10 6 4nm、脉宽 15ns的Nd :YAG激光器 ,电极间隙为 2 .8和 4mm)在线性工作模式下的瞬态电压传输效率 (它在开关偏置电压一定时随触发光能量的增加而提高 ,最高可达... 实验研究了具有微带同轴联结方式的横向GaAs光电导开关 (触发光源用波长 10 6 4nm、脉宽 15ns的Nd :YAG激光器 ,电极间隙为 2 .8和 4mm)在线性工作模式下的瞬态电压传输效率 (它在开关偏置电压一定时随触发光能量的增加而提高 ,最高可达 93% ) ,并观察到了输出电压波形的双极性现象 ,还用等效电路模型分析了开关的电压传输特性 ,理论与实验结果相吻合。 展开更多
关键词 绝缘gaas光电导开关 线性传输特性 电压传输特性 等效电路模型
下载PDF
Delayed-Dipole Domain Mode of Semi-Insulating GaAs Photoconductive Semiconductor Switches 被引量:1
4
作者 田立强 施卫 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第6期819-822,共4页
A mode for the periodicity and weakening surge in semi-insulating GaAs photoconductive semiconductor switches is proposed based on the transferred-electron effect. It is shown that the periodicity and weakening surge ... A mode for the periodicity and weakening surge in semi-insulating GaAs photoconductive semiconductor switches is proposed based on the transferred-electron effect. It is shown that the periodicity and weakening surge is caused by the interaction between the self-excitation of the resonant circuit and transferred electron oscillation of the switch. The bias electric field (larger than Gunn threshold) across the switch is modulated by the AC elec-tric field,when the instantaneous bias electric field E is swinging below Gunn electric field threshold ET but grea-ter than the sustaining field Es (the minimum electric field required to support the domain) at the time of the do-main reaching the anode, and then the delayed-dipole domain mode of switch is obtained. It is the photon-activated carriers that satisfy the requirement of charge domain formation on carrier concentration and device length prod-uct of 10^12 cm^-2,and the semi-insulating GaAs photoconductive semiconductor switch is essentially a type of pho-ton-activated charge domain device. 展开更多
关键词 semi-insulating gaas photoconductive switch Gunn effect SELF-EXCITATION delayed-dipole domainmode
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部