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半导体温控系统的自抗扰控制器设计
被引量:
2
1
作者
廖晓文
陈政石
+1 位作者
田志波
黄瑞龙
《自动化仪表》
CAS
北大核心
2012年第8期45-47,50,共4页
针对半导体温控系统大时间常数、时滞较大且易受参数扰动影响的问题,提出了自抗扰控制(ADRC)技术。针对自抗扰控制器待调节参数多、参数整定较为困难的问题,从fal函数特性及扩展状态观测器(ESO)设计出发,确定了自抗扰控制器的参数,并探...
针对半导体温控系统大时间常数、时滞较大且易受参数扰动影响的问题,提出了自抗扰控制(ADRC)技术。针对自抗扰控制器待调节参数多、参数整定较为困难的问题,从fal函数特性及扩展状态观测器(ESO)设计出发,确定了自抗扰控制器的参数,并探讨了如何准确估计建模误差与外扰。仿真试验表明,系统在半导体致冷器件优值系数、冷热端温差发生变化及受到电压纹波干扰时均具有良好的鲁棒性能和动态性能。
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关键词
半导体
温控系统
自抗扰
参数扰动
参数设置
ESO
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职称材料
题名
半导体温控系统的自抗扰控制器设计
被引量:
2
1
作者
廖晓文
陈政石
田志波
黄瑞龙
机构
广东石油化工学院自动化系
出处
《自动化仪表》
CAS
北大核心
2012年第8期45-47,50,共4页
基金
茂名市科技计划基金资助项目(编号:20101023)
文摘
针对半导体温控系统大时间常数、时滞较大且易受参数扰动影响的问题,提出了自抗扰控制(ADRC)技术。针对自抗扰控制器待调节参数多、参数整定较为困难的问题,从fal函数特性及扩展状态观测器(ESO)设计出发,确定了自抗扰控制器的参数,并探讨了如何准确估计建模误差与外扰。仿真试验表明,系统在半导体致冷器件优值系数、冷热端温差发生变化及受到电压纹波干扰时均具有良好的鲁棒性能和动态性能。
关键词
半导体
温控系统
自抗扰
参数扰动
参数设置
ESO
Keywords
Semiconductor temperature control system Active disturbance rejection Parameter disturbance Parameters setting ESO
分类号
TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
半导体温控系统的自抗扰控制器设计
廖晓文
陈政石
田志波
黄瑞龙
《自动化仪表》
CAS
北大核心
2012
2
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