期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
高功率半导体激光器评述 被引量:10
1
作者 曹三松 《激光技术》 CAS CSCD 北大核心 2000年第4期203-206,共4页
作者综合评述了高功率半导体激光器的发展现状 ,对高功率半导体阵列器件结构进行了分析 ,介绍了设计高功率半导体激光器所涉及的关键技术。
关键词 半导 光器 列阵 高功率 GAALAS/GAAS
下载PDF
CdF_2半导体中表面磁极化子的性质 被引量:7
2
作者 肖景林 额尔敦朝鲁 张鹏 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第6期441-447,共7页
本文讨论电子和表面光学声子耦合强、与体纵光学声子耦合弱时对CdF2半导体表面磁极化子性质的影响.采用线性组合算符法和微扰法导出了CdF2半导体中表面磁极化子的有效哈密顿量.在计及电子在反冲效应中发射和吸收不同波矢的声... 本文讨论电子和表面光学声子耦合强、与体纵光学声子耦合弱时对CdF2半导体表面磁极化子性质的影响.采用线性组合算符法和微扰法导出了CdF2半导体中表面磁极化子的有效哈密顿量.在计及电子在反冲效应中发射和吸收不同波矢的声子之间的相互作用时,讨论了对CdF2半导体中表面磁极化子性质的的影响.对CdF2半导体进行数值计算,结果表明,CdF2半导体中表面磁极化子的振动频率λ和诱生势Vis随坐标z的增加而减小,随磁场B的增加而增加;诱生势Vib随坐标z的增加而增加,但与外磁场B无关;有效势Vef随坐标z和磁场B的增加而增加;当z<3nm时,声子之间相互作用的影响Δ随坐标z的增加而增加,当z>3nm时,Δ随z的增加而缓慢减小. 展开更多
关键词 氟化镉 表面磁极化子 性质 半导亘子阱
下载PDF
常规四探针法和双位四探针法测量半导体薄片电阻率的比较与探讨 被引量:3
3
作者 鲁效明 《计量技术》 1994年第4期24-26,共3页
本文主要介绍了三种测量薄片电阻率的方法及其测量结果的差别,并探讨了产生不同测量结果的根源。
关键词 探针法 半导薄膜 电阻率 测量
下载PDF
升温工艺对PTCBaTiO3陶瓷显微结构和电性能的影响 被引量:1
4
作者 姚尧 王依琳 《上海微电子技术和应用》 1996年第1期17-22,共6页
低于液相呈现温度,用变化升温速率(160-1800℃/小时)的烧结工艺来制备PTCBaTO3陶瓷。测量了PTCBaTiO3试样的室温电阻、R-T曲线I-V曲线及拍摄了试样自然烧结面SEM照片。
关键词 低共熔点 升温速率 异常晶粒生长 半导陶瓷
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部