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题名基于介电损耗的电磁线圈匝间绝缘寿命研究
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作者
关北业
王锴
牛宏亮
蒋茂苇
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机构
沈阳工业大学电气工程学院
中国科学院沈阳自动化研究所
中国科学院网络化控制系统重点实验室
中国科学院机器人与智能制造创新研究院
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出处
《自动化与仪表》
2024年第7期22-26,41,共6页
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基金
国家自然科学基金项目(62073313)。
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文摘
低压电磁线圈作为电气设备的核心部件,其匝间绝缘失效问题尤其突出。为评估低压电磁线圈匝间绝缘寿命,对制作的双绞线试样在210℃、230℃、250℃下分别进行10个老化周期的加速热老化试验,探究热应力对其电气性能的影响规律。结果表明,随着老化温度升高、老化时间增加,介电损耗与之呈现出直接正相关变化规律。为此提出一种基于介电损耗的失效率模型判断匝间绝缘寿命,并根据Arrhenius模型拟合温度寿命曲线对所提出失效率模型进行精度验证。结果表明,所提出基于介电损耗的失效率模型误差率为0.744%,对评估匝间绝缘寿命具有较高的准确性。
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关键词
加速热老化试验
介电损耗
失效率模型
匝间绝缘寿命
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Keywords
accelerated thermal aging test
dielectric loss
inefficient model
interturn insulation life
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分类号
TM93
[电气工程—电力电子与电力传动]
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