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微波暗室内壁剩余强散射点的SAR成像诊断研究
1
作者 符礼 高志国 +1 位作者 徐海涛 徐国兵 《微波学报》 CSCD 北大核心 2014年第S1期21-24,共4页
创新性地提出了采用SAR成像技术对微波暗室内壁剩余强散射点进行二维成像诊断,建立了相应的成像模型,选取了时域B-P算法作为成像算法,并对该算法在暗室内成像进行了仿真验证。仿真结果表明,时域B-P算法能够获得暗室内壁剩余强散射点分... 创新性地提出了采用SAR成像技术对微波暗室内壁剩余强散射点进行二维成像诊断,建立了相应的成像模型,选取了时域B-P算法作为成像算法,并对该算法在暗室内成像进行了仿真验证。仿真结果表明,时域B-P算法能够获得暗室内壁剩余强散射点分布的高分辨率、高精度二维像。采用SAR成像技术实现微波暗室内壁的二维成像诊断对经济、有效地提高暗室电性能具有实际的意义。 展开更多
关键词 微波暗室 剩余散射点 SAR 成像 时域 B-P
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