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X射线荧光光谱法测定感光材料中的含银量
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作者 李而淮 《影像技术》 CAS 2002年第1期12-13,共2页
介绍了用X射线荧光光谱法测定感光材料中的含银量,按含银量不同分段斜率输入法取代一次斜率输入法,较好地消除了基体效应影响,获得比较准确的分析结果。
关键词 X射线荧光光谱 感光材料 含银量 测定 分段斜率输入法
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