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测量整体X光透镜性能的一种新方法 被引量:3
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作者 孙天希 丁训良 +1 位作者 刘志国 王大椿 《高能物理与核物理》 EI CSCD 北大核心 2005年第10期1017-1022,共6页
为了高效准确地确定整体X光透镜焦斑位置,设计了一种新方法:轴向扫描法.该方法避免了探测系统的死时间问题,可以在大能量范围内同时测量透镜在不同能量点的出口焦距,在确定透镜出口焦距时,测量结果的绝对误差范围在-120μm和120μm之间... 为了高效准确地确定整体X光透镜焦斑位置,设计了一种新方法:轴向扫描法.该方法避免了探测系统的死时间问题,可以在大能量范围内同时测量透镜在不同能量点的出口焦距,在确定透镜出口焦距时,测量结果的绝对误差范围在-120μm和120μm之间.实验结果表明:透镜的出口焦距随着能量的增加而增加. 展开更多
关键词 整体X光透镜 焦斑位置 轴向扫描法 出口焦距 绝对误差
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