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700V单晶扩散型LDMOS的特性与模型
被引量:
5
1
作者
苏健
方健
+3 位作者
武洁
张波
李肇基
罗萍
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第2期192-194,共3页
文章对耐压700V的单晶扩散型LDMOS进行了研究。借助二维数值模拟器MEDICI,详细分析了LDMOS的准饱和特性产生机理,以及准漏极(quasidrain)的相关特性;采用宏模型的建模概念与方法,给出了LDMOS的等效电路模型,用于电路仿真器HSPICE,取...
文章对耐压700V的单晶扩散型LDMOS进行了研究。借助二维数值模拟器MEDICI,详细分析了LDMOS的准饱和特性产生机理,以及准漏极(quasidrain)的相关特性;采用宏模型的建模概念与方法,给出了LDMOS的等效电路模型,用于电路仿真器HSPICE,取得了较好的仿真结果。
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关键词
LDMOS
单晶扩散
准
饱和
准
漏
极
宏模型
下载PDF
职称材料
题名
700V单晶扩散型LDMOS的特性与模型
被引量:
5
1
作者
苏健
方健
武洁
张波
李肇基
罗萍
机构
电子科技大学IC设计中心
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第2期192-194,共3页
基金
模拟集成电路国家重点实验室基金资助项目(51439080101DZ0202)
文摘
文章对耐压700V的单晶扩散型LDMOS进行了研究。借助二维数值模拟器MEDICI,详细分析了LDMOS的准饱和特性产生机理,以及准漏极(quasidrain)的相关特性;采用宏模型的建模概念与方法,给出了LDMOS的等效电路模型,用于电路仿真器HSPICE,取得了较好的仿真结果。
关键词
LDMOS
单晶扩散
准
饱和
准
漏
极
宏模型
Keywords
LDMOS
Quasi Saturation characteristics
Quasi drain
Macro Model
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
700V单晶扩散型LDMOS的特性与模型
苏健
方健
武洁
张波
李肇基
罗萍
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2004
5
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